一种逐次逼近型电容检测电路

    公开(公告)号:CN113411085B

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202110727143.2

    申请日:2021-06-29

    Abstract: 本发明公开了一种逐次逼近型电容检测电路,包括阶梯计数器模块,上下两个计数器分别接收待测电压与其反相值,以逐次逼近的方式输出四位数码以控制电流开关阵列。电流阵列,其耦接与异步计数器的四位输出,对升压电阻进行充电,以输出逐次逼近后的电压值。比较模块,由比较器接收来自待测电容的充电电压与电流开关阵列输出进行比较,输出作为下一次计数器的选用信号进行再次比较以达到逐次逼近的目的,该电路使用的比较器对工艺及工作温度不敏感,因此能够避免在不同工作温度时过压保护阈值的变化或受芯片制造过程中工艺角的影响,从而提高过压保护功能的可靠性;采用开环比较器能够增强整体运行速度,并且有效的提升了增益。

    一种逐次逼近型电容检测电路

    公开(公告)号:CN113411085A

    公开(公告)日:2021-09-17

    申请号:CN202110727143.2

    申请日:2021-06-29

    Abstract: 本发明公开了一种逐次逼近型电容检测电路,包括阶梯计数器模块,上下两个计数器分别接收待测电压与其反相值,以逐次逼近的方式输出四位数码以控制电流开关阵列。电流阵列,其耦接与异步计数器的四位输出,对升压电阻进行充电,以输出逐次逼近后的电压值。比较模块,由比较器接收来自待测电容的充电电压与电流开关阵列输出进行比较,输出作为下一次计数器的选用信号进行再次比较以达到逐次逼近的目的,该电路使用的比较器对工艺及工作温度不敏感,因此能够避免在不同工作温度时过压保护阈值的变化或受芯片制造过程中工艺角的影响,从而提高过压保护功能的可靠性;采用开环比较器能够增强整体运行速度,并且有效的提升了增益。

    一种自校准流水线ADC
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113114248A

    公开(公告)日:2021-07-13

    申请号:CN202110509817.1

    申请日:2021-05-11

    Abstract: 本发明公开了一种自校准流水线ADC,通过第一子ADC对输入信号进行粗量化,其量化结果由第一开关逻辑控制模块编码成控制信号以对第一MDAC进行控制,使其实现输入信号与粗量化结果相减结果的差值放大,并传递给后级电路;由第二子ADC、第二开关逻辑控制模块、第二MDAC、第三子ADC、第三开关逻辑控制模块、第三MDAC遵循此过程,以流水线的方式逐级量化和差值放大,直至第四子ADC进行末端量化;同时由第一自校准模块、第二自校准模块和第三自校准模块根据低速ADC的量化编码结果进行各个子ADC量化编码的校准,实现高速高精度的流水线式的模数转换。

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