公开(公告)号：CN106370994A

公开(公告)日：2017-02-01

申请号：CN201610816544.4

申请日：2016-09-12

Applicant: 工业和信息化部电子工业标准化研究院

Inventor： 赵昭 ,  于利红

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2601

Abstract: 本发明公开了一种高频光电导衰减法载流子寿命测试仪，包括：承载装置，用于置放待测样品；测试装置，设置在承载装置的上方，包括高频系统和脉冲激光系统，可利用高频光电导衰减法对承载装置上的样品进行检测；信号采集处理装置，与测试装置中的高频系统相连，用于接收、处理样品检测时产生的光电导衰减信号。本发明中的高频光电导衰减法原理是基于电容耦合的方式，准确度高，同时此方法不需要切割样品，测量简便迅速。

公开(公告)号：CN206020600U

公开(公告)日：2017-03-15

申请号：CN201621050348.2

申请日：2016-09-12

Applicant: 工业和信息化部电子工业标准化研究院

Inventor： 赵昭 ,  于利红

IPC: G01R31/26

Abstract: 本实用新型公开了一种高频光电导衰减法载流子寿命测试仪，包括：承载装置，用于置放待测样品；测试装置，设置在承载装置的上方，包括高频系统和脉冲激光系统，可利用高频光电导衰减法对承载装置上的样品进行检测；信号采集处理装置，与测试装置中的高频系统相连，用于接收、处理样品检测时产生的光电导衰减信号。本实用新型中的高频光电导衰减法原理是基于电容耦合的方式，准确度高，同时此方法不需要切割样品，测量简便迅速。