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公开(公告)号:CN117713835A
公开(公告)日:2024-03-15
申请号:CN202410165401.6
申请日:2024-02-05
Applicant: 安徽大学
IPC: H03M1/46 , H04N25/772 , H03M1/56
Abstract: 本发明属于集成电路领域,具体涉及一种两步式列级低噪声CIS的模数转换器及CIS芯片。该电路中包括:SAR‑ADC单元、SS‑ADC单元、自适应采样控制单元和数据处理单元。其中,SAR‑ADC单元用于粗量化出Vin的高N位。SS‑ADC单元采用相关多重采样技术细量化出Vin的低M位。自适应采样控制单元包括一个选通电路和一个锁存器。锁存器锁存粗量化结果的最高位,将其作为环境光检测结果,并控制选通电路选通斜坡发生器传输到电路中的斜坡信号数量,进而调整SS‑ADC单元的重复采样次数。本发明克服了现有DCMS‑ADC电路需要多个斜坡发生器以及与环境光检测相关的逻辑电路,进而导致电路的集成度降低、功耗增加的问题。
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公开(公告)号:CN117713835B
公开(公告)日:2024-04-26
申请号:CN202410165401.6
申请日:2024-02-05
Applicant: 安徽大学
IPC: H03M1/46 , H04N25/772 , H03M1/56
Abstract: 本发明属于集成电路领域,具体涉及一种两步式列级低噪声CIS的模数转换器及CIS芯片。该电路中包括:SAR‑ADC单元、SS‑ADC单元、自适应采样控制单元和数据处理单元。其中,SAR‑ADC单元用于粗量化出Vin的高N位。SS‑ADC单元采用相关多重采样技术细量化出Vin的低M位。自适应采样控制单元包括一个选通电路和一个锁存器。锁存器锁存粗量化结果的最高位,将其作为环境光检测结果,并控制选通电路选通斜坡发生器传输到电路中的斜坡信号数量,进而调整SS‑ADC单元的重复采样次数。本发明克服了现有DCMS‑ADC电路需要多个斜坡发生器以及与环境光检测相关的逻辑电路,进而导致电路的集成度降低、功耗增加的问题。
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