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公开(公告)号:CN110501063B
公开(公告)日:2021-06-04
申请号:CN201910685221.X
申请日:2019-07-27
Applicant: 复旦大学
IPC: G01H9/00
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域,具体为一种光滑表面元件高频谐振驻波振幅分布的测量方法。本发明方法步骤如下:构建偏折测量系统,将相机和投影屏幕对被测元件左右对称放置;投影显示圆斑图样,用相机测量高频振动元件反射形成的模糊特征斑;采用差分算子识别特征斑的边界,拟合得到圆斑偏斜距离;基于标定获得的系统几何参数,计算被测表面各部分的法向偏转量;最后重构积分得到驻波振幅分布。本发明的系统结构简单,灵敏度高,抗干扰能力强,可以测量元件局部区域的驻波振幅分布,对于元件振动机理与特性分析、元件谐振性能保障有重要意义。
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公开(公告)号:CN110501063A
公开(公告)日:2019-11-26
申请号:CN201910685221.X
申请日:2019-07-27
Applicant: 复旦大学
IPC: G01H9/00
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域,具体为一种光滑表面元件高频谐振驻波振幅分布的测量方法。本发明方法步骤如下:构建偏折测量系统,将相机和投影屏幕对被测元件左右对称放置;投影显示圆斑图样,用相机测量高频振动元件反射形成的模糊特征斑;采用差分算子识别特征斑的边界,拟合得到圆斑偏斜距离;基于标定获得的系统几何参数,计算被测表面各部分的法向偏转量;最后重构积分得到驻波振幅分布。本发明的系统结构简单,灵敏度高,抗干扰能力强,可以测量元件局部区域的驻波振幅分布,对于元件振动机理与特性分析、元件谐振性能保障有重要意义。
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