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公开(公告)号：CN118798106A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202210114313.4
申请日：2022-01-30
Applicant: 复旦大学
IPC: G06F30/373 , G06F30/398
Abstract: 本发明属于集成电路可制造性设计技术领域。涉及集成电路可制造性设计中模拟电路成品率优化，具体涉及一种基于冻融贝叶斯优化技术的模拟电路成品率优化方法。本发明包括，提出在模拟电路成品率优化时，采用逐步提升候选最优设计点成品率分析精度的方法，利用冻融高斯过程回归模型对模拟电路成品率建模，预测渐进成品率。本方法中通过求解一个TT工艺角模拟电路性能优化问题，搜索刚好满足性能约束的设计点，并将这些点作为冻融贝叶斯优化热启动的初始点，可进一步提高成品率优化的收敛速度。经实验结果表明，本方法明显优于现有技术方法，能大幅减少模拟电路成品率优化所需仿真次数。
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