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公开(公告)号：CN1542860A
公开(公告)日：2004-11-03
申请号：CN200410030454.X
申请日：2004-03-15
Applicant: 因芬尼昂技术股份公司
IPC: G11C29/00
CPC classification number: G11C29/44 , G11C29/78 , G11C2029/4402
Abstract: 集成存储器具有可寻址的存储单元的常态与冗余单元。在常态模式下，存储单元储存需要被冗余单元取代的常态单元的地址。比较单元(3)对在地址总线(7)上的地址与被存在存储单元(2)中的地址进行比较并在确定有匹配情况时激活冗余单元。存储器也具有测试电路(5)，其可透过测试模块信号而激活并可用来把存储单元重新设成启始状态，为了可在后续操作中对冗余单元进行写入一识别码而先将冗余单元的地址储存在存储单元中。在一存储器的制作过程中所执行的功能测试的测试结果已不再有效用时仍可在后续阶段中对错误机制的拓朴敏感度进行分析。
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公开(公告)号：CN1252807C
公开(公告)日：2006-04-19
申请号：CN200410028670.0
申请日：2004-03-08
Applicant: 因芬尼昂技术股份公司
CPC classification number: G11C29/56 , G01R31/2855 , G01R31/318505 , G11C2029/2602
Abstract: 本发明提供测试集成模块的测试装置，其具有复数连接位置于载体基质上。集成模块可经由连接位置被连接至连接于该载体基质的测试单元。该连接位置被分组配置于连接数组中。经控制终端可选择集成模块于测试，该控制终端被供于每一连接位置，各组连接位置的控制终端被连接至分配于该组的控制总线。另提供地址与指令终端于每一连接位置，经由一变换装置，各组连接位置的地址与指令终端是被连接至地址与指令总线，该变换装置被分配于该各组，且可藉由分配于该组的控制总线而受控制。仅有被同步操作的该组数模块是经由该个别变换装置而被连接至该地址与指令总线。因而可增加该测试频率而不致影响驱动器负载。
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公开(公告)号：CN1577626A
公开(公告)日：2005-02-09
申请号：CN200410063708.8
申请日：2004-07-07
Applicant: 因芬尼昂技术股份公司
IPC: G11C11/4076 , G11C29/00
CPC classification number: G11C29/12015 , G11C7/22 , G11C7/222 , G11C11/401 , G11C11/4076 , G11C29/14
Abstract: 根据本发明集成芯片具第一时钟输入(c1k1)的施用之时钟信号输入(1.1)及时钟信号输出(1.2－1.5)。而且，其具锁相回路(2)，在输入侧其系连接至时钟信号输入(1.1)及用于产生第二时钟信号输入(c1k2)。而且，该芯片具多任务器(MUX)，经由此，该第一时钟信号(c1k1)或该第二时钟信号(c1k2)可被选择性地切换至该时钟信号输出(1.2－1.5)，及频率监测单元(3)，在输入侧其系连接至该时钟信号输入(1.1)及其以一种方式被设计及操作，使得在限制频率(fmin)为未达到的情况下，引起该多任务器(MUX)切换该第一时钟信号(c1k1)为该时钟信号输出(1.2－1.5)。
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公开(公告)号：CN1527373A
公开(公告)日：2004-09-08
申请号：CN200410028670.0
申请日：2004-03-08
Applicant: 因芬尼昂技术股份公司
CPC classification number: G11C29/56 , G01R31/2855 , G01R31/318505 , G11C2029/2602
Abstract: 本发明提供测试集成模块之测试装置，其具有复数连接位置于载体基质上。集成模块可经由连接位置被连接至连接于该载体基质的测试单元。该连接位置被分组配置于连接数组中。经控制终端可选择集成模块于测试，该控制终端被供于每一连接位置，各组连接位置之控制终端被连接至分配于该组之控制总线。另提供地址与指令终端于每一连接位置，经由一变换装置，各组连接位置之地址与指令终端系被连接至地址与指令总线，该变换装置被分配于该各组，且可藉由分配于该组之控制总线而受控制。仅有被同步操作的该组数模块系经由该个别变换装置而被连接至该地址与指令总线。因而可增加该测试频率而不致影响驱动器负载。
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