基于CMOS数字图像技术的位移测量仪

    公开(公告)号:CN2718516Y

    公开(公告)日:2005-08-17

    申请号:CN200420063004.6

    申请日:2004-06-28

    Abstract: 本实用新型属于一种基于CMOS数字图像技术的位移测量仪。它由作为位移测量的CMOS图像传感器、作为系统控制中枢的数据处理器和显示器三部分组成,它们之间依次通过接口电路相连接。完成CMOS图像传感器的上电初始化和测量数据的采集与处理,控制显示器实时地显示所检测的位移量。其优点在于其价格低廉,测量精度高、重复定位精度高,具有极佳的性能价格比,在相同测量精度的条件下,可以大幅度降低数控机械加工、自动测量等涉及位移量测量设备的成本。可实现加工状态下的实时测量与显示,实现直线、平面上X、Y的位移测量,广泛适用于机械加工、工程绘图、自动测量和位移控制等领域。

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