公开(公告)号：CN101701937A

公开(公告)日：2010-05-05

申请号：CN200910073151.9

申请日：2009-11-09

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 苏龙滨 ,  纪祥春 ,  田坦 ,  陈敏 ,  陈婷婷 ,  苏继辉 ,  迟文广 ,  孙向阳

IPC: G01N29/07 ,  G01N29/22 ,  G01N29/24

Abstract: 本发明提供的是一种高精度超声无损检测方法及检测装置。超声探头组件包括一个发射探头和两个接收探头。发射探头发出的超声波经过楔形块的折射而入射到机械结构件内部，并在缺陷的边缘产生衍射波。对两个接收探头所接收超声衍射波的检测与测量可以得到传播时间tS1和tS2。由三个的超声波探头位置参数、传播时间tS1和tS2所对应的传播距离TL1与TL2参数形成了焦距、端点参数不同的两个椭圆。通过椭圆方程组的结算便可获得缺陷上端、下端边缘的坐标值，由此可以计算出缺陷的长度L、倾斜角α、缺陷深度d几何参数。通过探头组件中安装的CMOS图像传感器给出的(Δx，Δy)位移参数与缺陷测量值的数据融合，便可以绘制缺陷的高精度三维图像。

公开(公告)号：CN2718516Y

公开(公告)日：2005-08-17

申请号：CN200420063004.6

申请日：2004-06-28

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 苏龙滨 ,  邱忠仁 ,  覃杰莉

IPC: G01B21/02

Abstract: 本实用新型属于一种基于CMOS数字图像技术的位移测量仪。它由作为位移测量的CMOS图像传感器、作为系统控制中枢的数据处理器和显示器三部分组成，它们之间依次通过接口电路相连接。完成CMOS图像传感器的上电初始化和测量数据的采集与处理，控制显示器实时地显示所检测的位移量。其优点在于其价格低廉，测量精度高、重复定位精度高，具有极佳的性能价格比，在相同测量精度的条件下，可以大幅度降低数控机械加工、自动测量等涉及位移量测量设备的成本。可实现加工状态下的实时测量与显示，实现直线、平面上X、Y的位移测量，广泛适用于机械加工、工程绘图、自动测量和位移控制等领域。