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公开(公告)号：CN111693545A
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN202010488277.9
申请日：2020-06-02
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种用于板条测试的复合结构阵列探头及光纤白光干涉装置，复合结构阵列探头由4×4排列的测量探头，和中央部分对准探头阵列构成，其中对准探头阵列包括，发射子探头，和反射光斑的接收探头阵列，且前端配有自聚焦透镜阵列进行光路准直。并匹配该复合结构排列的阵列探头提出一种新型板条检测装置包括光源，1×2耦合器一，光开关，复合阵列探头，待测板条，位移调节架，用于对准检测的探测器阵列，软件驱动，2×2耦合器二，法拉第旋镜，延迟线结构，干涉信号探测模块，装置中光学元件由单模光纤连接，软件驱动部分通过电路连接，进行控制和接收信号。可以实现对板条弱反射区域的高精度超大动态范围检测。
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公开(公告)号：CN111692991A
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN202010488458.1
申请日：2020-06-02
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01B11/24 , G01B11/255 , G01B9/02
Abstract: 本发明提供一种基于白光干涉测量板条键合面的点云数据获取方法，属于激光板条的质量检测领域，白光干涉系统通过光纤探头对键合面进行光斑点式探测，配合位移调节架实现扫描测试，提出一种改进的点云数据获取方法，尤其涉及双曲率参数加权平均值评估，经过粗测和精测两次点云数据获取的技术方法，具体是：首先粗测采点，获取键合面初步点云，包括键合面三维位置点云，和对应点反射率信息点云；然后构建邻域，求解两种点云对应的曲率分布；最后根据两曲率加权值的值域分级别对键合面区域分割，插值补测。本发明创新性提出改进的加权平均合曲率参数作为键合面缺陷评价指标，并针对合曲率大的区域插值补测，有效节省检测成本。
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公开(公告)号：CN111693545B
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202010488277.9
申请日：2020-06-02
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种用于板条测试的复合结构阵列探头及光纤白光干涉装置，复合结构阵列探头由4×4排列的测量探头，和中央部分对准探头阵列构成，其中对准探头阵列包括，发射子探头，和反射光斑的接收探头阵列，且前端配有自聚焦透镜阵列进行光路准直。并匹配该复合结构排列的阵列探头提出一种新型板条检测装置包括光源，1×2耦合器一，光开关，复合阵列探头，待测板条，位移调节架，用于对准检测的探测器阵列，软件驱动，2×2耦合器二，法拉第旋镜，延迟线结构，干涉信号探测模块，装置中光学元件由单模光纤连接，软件驱动部分通过电路连接，进行控制和接收信号。可以实现对板条弱反射区域的高精度超大动态范围检测。
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公开(公告)号：CN111947893B
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202010729078.2
申请日：2020-07-27
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供一种有源光纤分布式测量装置及测量方法，属于有源光纤的测量表征领域，有源光纤的测量装置包括宽谱光源、光纤环形器、泵浦光源、光纤波分复用器、待测有源光纤、光纤耦合器、光纤布拉格光栅组、扫描延迟线、光电探测器，装置中的光学元件由单模光纤连接。并匹配该测量装置提出一种有源光纤分布式测量表征的系统化方法流程，通过干涉测量结果，区分出有源光纤的各项参数，尤其是利用光纤布拉格光栅组，识别有源光纤在不同波长下的吸收和增益。本发明改进现有低相干反射计装置，创新性引入光纤布拉格光栅作为干涉仪中的反射镜，可以针对性测量有源光纤在某一波长下的参数。
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公开(公告)号：CN111692991B
公开(公告)日：2021-09-10
申请号：CN202010488458.1
申请日：2020-06-02
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01B11/24 , G01B11/255 , G01B9/02
Abstract: 本发明提供一种基于白光干涉测量板条键合面的点云数据获取方法，属于激光板条的质量检测领域，白光干涉系统通过光纤探头对键合面进行光斑点式探测，配合位移调节架实现扫描测试，提出一种改进的点云数据获取方法，尤其涉及双曲率参数加权平均值评估，经过粗测和精测两次点云数据获取的技术方法，具体是：首先粗测采点，获取键合面初步点云，包括键合面三维位置点云，和对应点反射率信息点云；然后构建邻域，求解两种点云对应的曲率分布；最后根据两曲率加权值的值域分级别对键合面区域分割，插值补测。本发明创新性提出改进的加权平均合曲率参数作为键合面缺陷评价指标，并针对合曲率大的区域插值补测，有效节省检测成本。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104005731A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410174674.3
申请日：2014-06-13
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: E21B41/00
Abstract: 本发明的目的在于提供海洋废弃设施排泥装置，固定支撑架用来吊挂支撑整个排泥系统，起吊缆绳一端连接排缆器，另一端固定在第一定滑轮上，第一定滑轮安装在支撑架上部，第二定滑轮固定在工作平台上，动滑轮与钢桩内排泥系统上端部连接，吸排泥系统的高压水泵和空压机放置于工作平台上，注水管连接入水口，注气管连接入气口，动力头带动钻头旋转，钻头采用刮刀钻头，用刮刀钻头将水下的泥沙钻开，同时高压水喷头喷水冲散钢桩壁上的泥沙，使泥沙与水充分混合，有高压气体经出气口压入排泥入口，再由排泥管排出钢桩。本发明通过气举式排泥装置将含有泥沙的固-液两相流吸排至钢桩外侧的内排泥方法，成本低，效率高，可靠性强，节省时间，经济环保。
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公开(公告)号：CN111829988B
公开(公告)日：2022-12-09
申请号：CN202010606876.6
申请日：2020-06-29
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种提高板条键合面光斑扫描测量分辨率的方法，本发明属于键合激光板条晶体的质量检测领域，板条键合面测量装置基于光纤白光干涉系统，通过光纤探头出射的光斑对键合面扫描，干涉探测获取键合面反射率信息，针对传统光斑检测方法分辨率受限于光斑尺寸的问题，提出利用光纤探头出射光束在轴向不同距离处的光强分布变化，进行“米”字路径光斑堆叠式扫描，在截面横向的四个角度上，实现不同距离位置处的反射率结果变化分析，有效推算出更高分辨率的反射率分布情况，同时对待测微尺寸键合面区域进行缺陷表征。
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公开(公告)号：CN111624177B
公开(公告)日：2022-09-16
申请号：CN202010488263.7
申请日：2020-06-02
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01N21/55
Abstract: 本发明提供一种键合板条键合面相对损耗值的获取方法，属于激光键合晶体板条的质量检测领域，首先运用已知反射率的标准反射面获取白光干涉装置回损校对值；然后通过干涉仪的延迟线结构，对待测板条中垂直键合面的深度方向扫描测试，获取各个反射面的分布式干涉强度信号，以及键合面的深度定位；进一步利用探头中已知反射率薄膜为标准，将干涉信号转化为反射率的分布式结果，并结合标准反射面的损耗校对值对测量结果校准；再利用菲涅尔反射公式将表面反射率测量结果转化为晶体的折射率，进而计算出键合面处理想的菲涅尔反射率理论值；最后通过键合面的反射率测量值与菲涅尔反射率理论值对比，得到键合面相对损耗值，以此评价键合面质量。
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公开(公告)号：CN111947893A
公开(公告)日：2020-11-17
申请号：CN202010729078.2
申请日：2020-07-27
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供一种有源光纤分布式测量装置及测量方法，属于有源光纤的测量表征领域，有源光纤的测量装置包括宽谱光源、光纤环形器、泵浦光源、光纤波分复用器、待测有源光纤、光纤耦合器、光纤布拉格光栅组、扫描延迟线、光电探测器，装置中的光学元件由单模光纤连接。并匹配该测量装置提出一种有源光纤分布式测量表征的系统化方法流程，通过干涉测量结果，区分出有源光纤的各项参数，尤其是利用光纤布拉格光栅组，识别有源光纤在不同波长下的吸收和增益。本发明改进现有低相干反射计装置，创新性引入光纤布拉格光栅作为干涉仪中的反射镜，可以针对性测量有源光纤在某一波长下的参数。
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公开(公告)号：CN111829988A
公开(公告)日：2020-10-27
申请号：CN202010606876.6
申请日：2020-06-29
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种提高板条键合面光斑扫描测量分辨率的方法，本发明属于键合激光板条晶体的质量检测领域，板条键合面测量装置基于光纤白光干涉系统，通过光纤探头出射的光斑对键合面扫描，干涉探测获取键合面反射率信息，针对传统光斑检测方法分辨率受限于光斑尺寸的问题，提出利用光纤探头出射光束在轴向不同距离处的光强分布变化，进行“米”字路径光斑堆叠式扫描，在截面横向的四个角度上，实现不同距离位置处的反射率结果变化分析，有效推算出更高分辨率的反射率分布情况，同时对待测微尺寸键合面区域进行缺陷表征。
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