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公开(公告)号：CN104613877A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201510086647.5
申请日：2015-02-17
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明提供的是一种测试IPMC线性驱动单元位移输出的装置与测试方法。水平方形底板的两端各固定一个支撑座，两个光滑的滑轨贯穿两个支撑座的两端，倒T型片的水平段置于两个滑轨底侧，倒T型片的垂直段位于两个滑轨之间，待测IPMC线性驱动单元片的一端与一个支撑座的内侧连接、另一端与倒T型片连接，与IPMC线性驱动单元片连接支撑座上安装L型的支架，第一激光位移传感器固定在L型的支架，另一个支撑座上安装第二激光位移传感器。本发明针对于IPMC线性驱动单元的位移进行测试，能够实现IPMC线性驱动单元的规则直线运动，满足实验测量要求；本发明的测试原理简单、直观，能够测量出IPMC线性驱动单元的位移值，测量结果可靠。
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公开(公告)号：CN104613877B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201510086647.5
申请日：2015-02-17
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明提供的是一种测试IPMC线性驱动单元位移输出的装置与测试方法。水平方形底板的两端各固定一个支撑座，两个光滑的滑轨贯穿两个支撑座的两端，倒T型片的水平段置于两个滑轨底侧，倒T型片的垂直段位于两个滑轨之间，待测IPMC线性驱动单元片的一端与一个支撑座的内侧连接、另一端与倒T型片连接，与IPMC线性驱动单元片连接支撑座上安装L型的支架，第一激光位移传感器固定在L型的支架，另一个支撑座上安装第二激光位移传感器。本发明针对于IPMC线性驱动单元的位移进行测试，能够实现IPMC线性驱动单元的规则直线运动，满足实验测量要求；本发明的测试原理简单、直观，能够测量出IPMC线性驱动单元的位移值，测量结果可靠。
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公开(公告)号：CN204495285U
公开(公告)日：2015-07-22
申请号：CN201520115016.7
申请日：2015-02-17
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本实用新型提供的是一种测试IPMC线性驱动单元位移输出的装置。水平方形底板的两端各固定一个支撑座，两个光滑的滑轨贯穿两个支撑座的两端，倒T型片的水平段置于两个滑轨底侧，倒T型片的垂直段位于两个滑轨之间，待测IPMC线性驱动单元片的一端与一个支撑座的内侧连接、另一端与倒T型片连接，与IPMC线性驱动单元片连接支撑座上安装L型的支架，第一激光位移传感器固定在L型的支架，另一个支撑座上安装第二激光位移传感器。本实用新型针对于IPMC线性驱动单元的位移进行测试，能够实现IPMC线性驱动单元的规则直线运动，满足实验测量要求；本实用新型的测试原理简单、直观，能够测量出IPMC线性驱动单元的位移值，测量结果可靠。
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