公开(公告)号：CN103150448A

公开(公告)日：2013-06-12

申请号：CN201310097446.6

申请日：2013-03-25

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 叶雪荣 ,  翟伟廷 ,  王瑛琪 ,  李子先 ,  刘鹏 ,  莫文礁 ,  崔飞鹏 ,  梁慧敏

IPC: G06F17/50

Abstract: 继电器批次产品释放电压一致性控制方法，本发明涉及继电器批次产品释放电压一致性控制方法。本发明是要解决继电器产品研发过程中缺乏一致性控制方法指导研发人员对可控参数分配合理的容差，进而导致制造过程中批次产品一致性差的问题，而提出了继电器批次产品释放电压一致性控制方法。一、正交试验设计；二、试验数据贡献率分析；三、建立容差分配目标函数；四、确定关键参数及其容差；五、继电器制造过程控制。本发明应用于继电器研发阶段的一致性控制领域。

公开(公告)号：CN103246776B

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：CN201310177544.0

申请日：2013-05-14

Applicant: 哈尔滨工业大学 ,  贵州振华群英电器有限公司

Inventor： 杨文英 ,  翟伟廷 ,  周志凯 ,  刘鹏 ,  冯小林 ,  梁慧敏

IPC: G06F17/50

Abstract: 基于蒙特卡洛模拟的接触器触头分断速度合格率预测方法，属于接触器检测技术领域。本发明解决了现有接触器设计过程中对分断速度参数进行检验的方法存在的需要加工制作样品导致设计和测试成本高和设计周期长的问题。本发明根据接触器设计文件确定对分断速度有影响的三种参数设计值及上下限、采用独立同分布的中心极限定理利用MATLAB产生N组参数组合；然后根据该N组参数组合获得N组分断速度特性参数；进而获得分断速度参数的分布特性；最后根据该分布特性和接触器的分断速度设计参数利用Simpson法则获得接触器分断速度合格率。本发明适用于在接触器的设计环节对接触器触头分断速度的合格率进行预测分析，进而为接触器的设计者提供修正设计参数的依据。

公开(公告)号：CN103246776A

公开(公告)日：2013-08-14

申请号：CN201310177544.0

申请日：2013-05-14

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨文英 ,  翟伟廷 ,  周志凯 ,  刘鹏 ,  冯小林 ,  梁慧敏

IPC: G06F17/50

Abstract: 基于蒙特卡洛模拟的接触器触头分断速度合格率预测方法，属于接触器检测技术领域。本发明解决了现有接触器设计过程中对分断速度参数进行检验的方法存在的需要加工制作样品导致设计和测试成本高和设计周期长的问题。本发明根据接触器设计文件确定对分断速度有影响的三种参数设计值及上下限、采用独立同分布的中心极限定理利用MATLAB产生N组参数组合；然后根据该N组参数组合获得N组分断速度特性参数；进而获得分断速度参数的分布特性；最后根据该分布特性和接触器的分断速度设计参数利用Simpson法则获得接触器分断速度合格率。本发明适用于在接触器的设计环节对接触器触头分断速度的合格率进行预测分析，进而为接触器的设计者提供修正设计参数的依据。