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公开(公告)号：CN108647458B
公开(公告)日：2019-05-03
申请号：CN201810470417.2
申请日：2018-05-16
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种结合制造工艺数据的机电产品退化建模方法，所述方法首先根据机电产品的组成特点、制造工艺数据以及退化机理确定其输出特性退化模型函数形式；之后以该机电产品的制造工艺数据为基础，通过有限元仿真及近似建模方法确定退化模型中随机影响系数的分布情况；同时基于机电产品试验样本的退化数据，估计出退化模型中固定影响系数的值；最后，根据所确定退化模型函数形式以及随机影响系数与固定影响系数，给出结合制造工艺数据的机电产品退化模型。本发明解决了目前的退化建模方法由于无法对由制造工艺所决定的随机影响系数进行量化表述，而需要对其分布情况进行主观假设的问题。
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公开(公告)号：CN107862130A
公开(公告)日：2018-03-30
申请号：CN201711073253.1
申请日：2017-11-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5009 , G06F2217/76
Abstract: 一种导致继电器贮存退化的内部关键因素的分析方法，包括如下步骤：建立继电器动态特性仿真模型；基于动态特性仿真建立继电器输出特性快速计算模型；通过蒙特卡洛方法及输出特性快速计算模型计算并拟合继电器输出特性分布；按照拟合结果分散程度筛选出对输出特性影响大的前若干个设计参数；确定选定设计参数最长贮存期对应的退化量；以该退化量为中心值，通过蒙特卡洛方法及输出特性快速计算模型计算并拟合继电器输出特性分布；计算继电器的可靠度，并以可靠度大小为指标确定导致其贮存退化的内部关键因素。本发明可对继电器输出特性进行快速、准确计算。解决了在进行继电器贮存可靠性设计与优化时，难以准确界定导致其贮存退化关键因素的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107730127B
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN201710993431.6
申请日：2017-10-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开一种基于输出特性初始分布的继电器贮存退化数据预测方法，包括如下步骤：获取继电器输出特性的初始分布情况；开展继电器加速贮存试验，并获取贮存退化数据；根据贮存退化数据，应用极大似然估计方法拟合其退化轨迹，选定拟合效果最优的退化模型函数形式；将所选定的最优退化模型函数形式，转化为表征输出特性退化数据与输出特性初始值关系的函数表达式，作为状态转移方程；结合输出特性初始分布情况以及状态转移方程，预测继电器退化模型中未知系数的分布情况；随机抽样继电器输出特性初始分布与未知系数分布，代入状态转移方程，实现对继电器贮存退化数据的预测。本发明可有效提高继电器产品贮存可靠性的评估准确度。
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公开(公告)号：CN107730127A
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201710993431.6
申请日：2017-10-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G06Q10/0639 , G06Q50/06
Abstract: 本发明公开一种基于输出特性初始分布的继电器贮存退化数据预测方法，包括如下步骤：获取继电器输出特性的初始分布情况；开展继电器加速贮存试验，并获取贮存退化数据；根据贮存退化数据，应用极大似然估计方法拟合其退化轨迹，选定拟合效果最优的退化模型函数形式；将所选定的最优退化模型函数形式，转化为表征输出特性退化数据与输出特性初始值关系的函数表达式，作为状态转移方程；结合输出特性初始分布情况以及状态转移方程，预测继电器退化模型中未知系数的分布情况；随机抽样继电器输出特性初始分布与未知系数分布，代入状态转移方程，实现对继电器贮存退化数据的预测。本发明可有效提高继电器产品贮存可靠性的评估准确度。
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公开(公告)号：CN108647458A
公开(公告)日：2018-10-12
申请号：CN201810470417.2
申请日：2018-05-16
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种结合制造工艺数据的机电产品退化建模方法，所述方法首先根据机电产品的组成特点、制造工艺数据以及退化机理确定其输出特性退化模型函数形式；之后以该机电产品的制造工艺数据为基础，通过有限元仿真及近似建模方法确定退化模型中随机影响系数的分布情况；同时基于机电产品试验样本的退化数据，估计出退化模型中固定影响系数的值；最后，根据所确定退化模型函数形式以及随机影响系数与固定影响系数，给出结合制造工艺数据的机电产品退化模型。本发明解决了目前的退化建模方法由于无法对由制造工艺所决定的随机影响系数进行量化表述，而需要对其分布情况进行主观假设的问题。
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公开(公告)号：CN107862130B
公开(公告)日：2018-09-11
申请号：CN201711073253.1
申请日：2017-11-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 一种导致继电器贮存退化的内部关键因素的分析方法，包括如下步骤：建立继电器动态特性仿真模型；基于动态特性仿真建立继电器输出特性快速计算模型；通过蒙特卡洛方法及输出特性快速计算模型计算并拟合继电器输出特性分布；按照拟合结果分散程度筛选出对输出特性影响大的前若干个设计参数；确定选定设计参数最长贮存期对应的退化量；以该退化量为中心值，通过蒙特卡洛方法及输出特性快速计算模型计算并拟合继电器输出特性分布；计算继电器的可靠度，并以可靠度大小为指标确定导致其贮存退化的内部关键因素。本发明可对继电器输出特性进行快速、准确计算。解决了在进行继电器贮存可靠性设计与优化时，难以准确界定导致其贮存退化关键因素的问题。
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公开(公告)号：CN107831459A
公开(公告)日：2018-03-23
申请号：CN201711053047.4
申请日：2017-11-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R33/12
CPC classification number: G01R33/12
Abstract: 一种继电器永磁材料加速贮存退化失效机理变化判别方法，属于继电器产品性能分析与试验方法研究技术领域。对继电器电磁系统中的永磁材料进行贮存退化试验并监测其退化数据；建立继电器动态特性仿真模型；修改模型中的永磁材料属性，实现永磁贮存退化注入并仿真对应的继电器输出特性退化情况；基于所获取的仿真贮存退化数据，计算对应于不同应力等级的继电器输出特性贮存退化速率；根据加速应力下的失效机理一致判别准则以及贮存退化速率计算结果，判断不同加速应力等级下继电器的贮存退化失效机理是否发生改变。本发明所提方法能够准确找出导致继电器贮存失效机理改变的加速应力等级，可为确定继电器加速贮存试验的最大加速应力等级提供依据。
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