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公开(公告)号：CN113237888B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202110559458.0
申请日：2021-05-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种大口径光学元件损伤点在线与离线暗场图像匹配方法，属于光学元件损伤检测领域。本发明针对现有光学元件的在线损伤图像与离线损伤图像之间通过损伤点匹配确定伪损伤点，匹配难度大并且效率低的问题。它采用近邻损伤多点主动定位方法找到损伤的位置，相对于传统的三角形匹配方法，不需要将损伤两两之间的距离、角度信息提前计算存储，极大地减少了计算量，加快了匹配速度；同时，利用待匹配损伤近邻已匹配损伤的相对位置关系，更加精准的找到待匹配损伤的位置，减少远距离损伤匹配带来的误差，提高匹配精度。本发明在强干扰损伤的情况下可正确匹配离线损伤所对应的在线损伤。
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公开(公告)号：CN113962915A
公开(公告)日：2022-01-21
申请号：CN202111221433.6
申请日：2021-10-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 非均匀照明条件下的自适应非线性超动态图像合成方法，解决了现有非均匀暗场照明条件下成像时被检测目标图像饱和的问题，属于光学元件检测技术领域。本发明在照明条件不变的条件下，损伤点所在的区域的照度场不均匀，采集n幅随着相机的曝光时间变化的图像。随着曝光时间增加，损伤点的图像灰度值会相应增加，判断图像中是否出现饱和点，如果出现饱和点，利用该饱和点之前曝光时间的图像中对应位置处的灰度值和曝光时间，对神经网络训练，实现非线性回归，利用神经网络获取对应饱和点在之后的曝光时间的灰度值，替换饱和的灰度值，生成超动态图像。
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公开(公告)号：CN113237888A
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN202110559458.0
申请日：2021-05-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种大口径光学元件损伤点在线与离线暗场图像匹配方法，属于光学元件损伤检测领域。本发明针对现有光学元件的在线损伤图像与离线损伤图像之间通过损伤点匹配确定伪损伤点，匹配难度大并且效率低的问题。它采用近邻损伤多点主动定位方法找到损伤的位置，相对于传统的三角形匹配方法，不需要将损伤两两之间的距离、角度信息提前计算存储，极大地减少了计算量，加快了匹配速度；同时，利用待匹配损伤近邻已匹配损伤的相对位置关系，更加精准的找到待匹配损伤的位置，减少远距离损伤匹配带来的误差，提高匹配精度。本发明在强干扰损伤的情况下可正确匹配离线损伤所对应的在线损伤。
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公开(公告)号：CN113962915B
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202111221433.6
申请日：2021-10-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 非均匀照明条件下的自适应非线性超动态图像合成方法，解决了现有非均匀暗场照明条件下成像时被检测目标图像饱和的问题，属于光学元件检测技术领域。本发明在照明条件不变的条件下，损伤点所在的区域的照度场不均匀，采集n幅随着相机的曝光时间变化的图像。随着曝光时间增加，损伤点的图像灰度值会相应增加，判断图像中是否出现饱和点，如果出现饱和点，利用该饱和点之前曝光时间的图像中对应位置处的灰度值和曝光时间，对神经网络训练，实现非线性回归，利用神经网络获取对应饱和点在之后的曝光时间的灰度值，替换饱和的灰度值，生成超动态图像。
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