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公开(公告)号：CN106596601A
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201710063780.8
申请日：2017-01-25
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/10
CPC classification number: G01N23/10
Abstract: 本发明提供一种安全检查系统，该安全检查系统包括：支撑主体，包括第一检测通道和第二检测通道；第一射线发射装置，能够向第一检测通道和第二检测通道发射检测射线；第一探测器装置，第一探测器装置的多个探测器模块对应于第一射线发射装置设置于所述第一检测通道和第二检测通道中；第二射线发射装置，能够分别向第一检测通道和第二检测通道发射检测射线的方式设置于第一检测通道和第二检测通道的上方或下方；第二探测器装置，第二探测器装置的第一组探测器模块对应于第二射线发射装置设置于第一检测通道中，第二组探测器模块对应于第二射线发射装置设置于第二检测通道中。能够实现便于对检测物品进行物质识别、提高判图效率。
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公开(公告)号：CN119247496A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411612535.4
申请日：2024-11-12
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/22
Abstract: 本发明提供了一种安检设备，包括：第一安检通道；第二安检通道，与第一安检通道间隔开，形成间隔通道；安装于第一安检通道的两个第一射线源，形成的第一束面与第一安检通道相交形成第一交汇位置，形成的第二束面与第一安检通道相交形成第二交汇位置；安装于第二安检通道的两个第二射线源，形成的第三束面与第二安检通道相交形成第三交汇位置，形成的第四束面与第二安检通道相交形成第四交汇位置；安装于第一交汇位置处和第二交汇位置处的两个第一探测器组；安装于第三交汇位置处和第四交汇位置处的两个第二探测器组；其中，位于间隔通道的第一探测器组与位于间隔通道的第二探测器组在间隔通道的延伸方向上间隔开。
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公开(公告)号：CN117783163A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311820251.X
申请日：2023-12-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提供了一种射线检查系统的显示方法、装置、射线检查系统及方法，可以应用于显示技术领域及安全检查技术领域。该射线检查系统的显示方法包括：获取由探测器采集的M帧射线数据；对M帧射线数据分别进行处理，得到M帧图像，其中，M帧图像适于在射线检测系统的显示屏上进行显示；基于M帧图像，生成视频数据；以第一预定频率动态显示视频数据。
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公开(公告)号：CN117571758A
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202311474576.7
申请日：2017-01-25
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种安全检查系统，该安全检查系统包括：支撑主体，包括第一检测通道和第二检测通道；屏蔽装置，设置于第一检测通道和第二检测通道之间；第一射线发射装置，以能够向第一检测通道发射检测射线的方式设置在第一检测通道的远离第二检测通道的一侧；第一探测器装置，设置于第一检测通道中，以接收从第一射线发射装置发射的检测射线；第二射线发射装置，以能够向第二检测通道发射检测射线的方式设置在第二检测通道的远离第一检测通道的一侧；以及第二探测器装置，设置于第二检测通道中，以接收从第二射线发射装置发射的检测射线，第一射线发射装置和第二射线发射装置的射线发射端均与水平面方向形成预定夹角。能够提高检测效率。
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公开(公告)号：CN119310442A
公开(公告)日：2025-01-14
申请号：CN202411630229.3
申请日：2024-11-14
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01R31/302 , G01R31/308 , G01R31/265 , G01R1/04 , G01N23/04
Abstract: 本发明提供了一种电子产品的射线检测系统和方法，射线检测系统包括：防辐射壳体，防辐射壳体具有容纳腔；射线源，射线源设于容纳腔；载物装置，载物装置可推拉地设于容纳腔，用于放置待检测电子产品，载物装置的未被容纳腔包裹的侧面为防辐射材料制成；探测器，探测器设于容纳腔，射线源与探测器分别位于载物装置相对的两侧；控制装置，控制装置设于防辐射壳体外，与射线源和探测器均通讯连接，用于控制射线源出束和接收探测器的扫描图像，对扫描图像进行处理，得到检测结果。本发明的射线检测系统检测效率高，占地面积小，使用场景灵活。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106645232B
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN201710056720.3
申请日：2017-01-25
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/10
Abstract: 本发明提供一种安全检查系统，该安全检查系统包括：支撑主体，包括第一检测通道和第二检测通道；屏蔽装置，设置于第一检测通道和第二检测通道之间；第一射线发射装置，以能够向第一检测通道发射检测射线的方式设置在第一检测通道的远离第二检测通道的一侧；第一探测器装置，设置于第一检测通道中，以接收从第一射线发射装置发射的检测射线；第二射线发射装置，以能够向第二检测通道发射检测射线的方式设置在第二检测通道的远离第一检测通道的一侧；以及第二探测器装置，设置于第二检测通道中，以接收从第二射线发射装置发射的检测射线。能够实现提高生成的辐射图像的成像质量、便于对辐射图像进行物质识别、使判图逻辑清晰的目的。
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公开(公告)号：CN106596601B
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN201710063780.8
申请日：2017-01-25
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/10
Abstract: 本发明提供一种安全检查系统，该安全检查系统包括：支撑主体，包括第一检测通道和第二检测通道；第一射线发射装置，能够向第一检测通道和第二检测通道发射检测射线；第一探测器装置，第一探测器装置的多个探测器模块对应于第一射线发射装置设置于所述第一检测通道和第二检测通道中；第二射线发射装置，能够分别向第一检测通道和第二检测通道发射检测射线的方式设置于第一检测通道和第二检测通道的上方或下方；第二探测器装置，第二探测器装置的第一组探测器模块对应于第二射线发射装置设置于第一检测通道中，第二组探测器模块对应于第二射线发射装置设置于第二检测通道中。能够实现便于对检测物品进行物质识别、提高判图效率。
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公开(公告)号：CN106645232A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201710056720.3
申请日：2017-01-25
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/10
CPC classification number: G01N23/10
Abstract: 本发明提供一种安全检查系统，该安全检查系统包括：支撑主体，包括第一检测通道和第二检测通道；屏蔽装置，设置于第一检测通道和第二检测通道之间；第一射线发射装置，以能够向第一检测通道发射检测射线的方式设置在第一检测通道的远离第二检测通道的一侧；第一探测器装置，设置于第一检测通道中，以接收从第一射线发射装置发射的检测射线；第二射线发射装置，以能够向第二检测通道发射检测射线的方式设置在第二检测通道的远离第一检测通道的一侧；以及第二探测器装置，设置于第二检测通道中，以接收从第二射线发射装置发射的检测射线。能够实现提高生成的辐射图像的成像质量、便于对辐射图像进行物质识别、使判图逻辑清晰的目的。
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公开(公告)号：CN206725472U
公开(公告)日：2017-12-08
申请号：CN201720098266.3
申请日：2017-01-25
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/10
Abstract: 本实用新型提供一种安全检查系统，该安全检查系统包括：支撑主体，包括第一检测通道和第二检测通道；屏蔽装置，设置于第一检测通道和第二检测通道之间；第一射线发射装置，以能够向第一检测通道发射检测射线的方式设置在第一检测通道的远离第二检测通道的一侧；第一探测器装置，设置于第一检测通道中，以接收从第一射线发射装置发射的检测射线；第二射线发射装置，以能够向第二检测通道发射检测射线的方式设置在第二检测通道的远离第一检测通道的一侧；以及第二探测器装置，设置于第二检测通道中，以接收从第二射线发射装置发射的检测射线。能够实现提高生成的辐射图像的成像质量、便于对辐射图像进行物质识别、使判图逻辑清晰的目的。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN206431070U
公开(公告)日：2017-08-22
申请号：CN201720098267.8
申请日：2017-01-25
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/10
Abstract: 本实用新型提供一种安全检查系统，该安全检查系统包括：支撑主体，包括第一检测通道和第二检测通道；第一射线发射装置，能够向第一检测通道和第二检测通道发射检测射线；第一探测器装置，第一探测器装置的多个探测器模块对应于第一射线发射装置设置于所述第一检测通道和第二检测通道中；第二射线发射装置，能够分别向第一检测通道和第二检测通道发射检测射线的方式设置于第一检测通道和第二检测通道的上方或下方；第二探测器装置，第二探测器装置的第一组探测器模块对应于第二射线发射装置设置于第一检测通道中，第二组探测器模块对应于第二射线发射装置设置于第二检测通道中。能够实现便于对检测物品进行物质识别、提高判图效率。
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