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公开(公告)号：CN115691694A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211376610.2
申请日：2022-11-04
Applicant: 厦门钨业股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种氧化钨的成分分析方法及通过氧化钨制备钨的控制方法，其中氧化钨的成分分析方法，其特征在于，包括：获取氧化钨的衍射图谱；对所述衍射图谱进行全谱拟合得到对所述氧化钨成分分析的分析结果。由此可以解决目前由于氧化钨结构比较复杂，衍射线条多而又经常发生重叠，相分析存在困难的问题。
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公开(公告)号：CN119688748A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411905430.8
申请日：2024-12-23
Applicant: 厦门钨业股份有限公司
IPC: G01N23/2055
Abstract: 本发明涉及一种核壳结构碳化钨粉末结晶程度表征方法、装置及计算机设备，其中核壳结构碳化钨粉末结晶程度表征方法包括：获取核壳结构碳化钨粉末的核部及壳部的X射线衍射图谱；确定X射线衍射图谱中的待分析物相及对应的衍射峰；判断待分析物相的衍射峰是否存在重叠峰区域；当待分析物相的衍射峰不存在重叠峰区域时，选取至少一个预设晶面衍射峰；分别获取待分析物相中每个预设晶面衍射峰的峰位和半高宽；根据每个预设晶面衍射峰的峰位和半高宽确定待分析物相的峰谷比。通过分别获取核壳结构碳化钨粉末的核部及壳部的X射线衍射图谱，以峰谷比定量表征核壳结构碳化钨粉末的核部和壳部的待分析相的结晶度。
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公开(公告)号：CN119470506A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202411634640.8
申请日：2024-11-15
Applicant: 厦门钨业股份有限公司
IPC: G01N23/20008
Abstract: 本申请公开了一种用于XRD测试微区相成分的制样方法，属于XRD相成分检测技术领域。通过在待测样品的待测面覆盖选定的覆盖物，而后将待测样品的待测区域处的覆盖物刻蚀后仅暴露出待测样品的待测区域。这样，在采用X射线衍射仪对待测区域的相成分进行测试时，待测区域以外的待测面无衍射峰或与待测区域衍射峰不完全重叠，就可获得微米级待测区域的衍射峰图谱。本发明的方法使得微米级待测区域的相成分的XRD检测可以不受测量方式或仪器硬件条件的限制。
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公开(公告)号：CN115901825A
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN202211137084.4
申请日：2022-09-19
Applicant: 厦门钨业股份有限公司
IPC: G01N23/2055
Abstract: 本发明公开了一种碳化钨结晶程度确定方法、装置、电子设备及存储介质。其中碳化钨结晶程度确定方法包括：获取碳化钨的X射线衍射图谱；对所述X射线衍射图谱进行第一差异化表征，得到完整度指标；对所述X射线衍射图谱进行第二差异化表征，得到粗化度指标；根据所述完整度指标和所述粗化度指标计算所述碳化钨的结晶指数。利用上述WC结晶程度测定方法对WC粉末进行检测可以半定量WC粉末的结晶程度，进而可以对WC粉末进行更全面的质量控制。
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公开(公告)号：CN118883305A
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN202410955546.6
申请日：2024-07-17
Applicant: 厦门钨业股份有限公司
IPC: G01N3/20 , G01N3/02 , G01N23/207
Abstract: 本申请提供了一种丝材韧性评价方法及装置，涉及材料分析技术领域。该方法包括：在目标丝材以待测点切向方向的垂直线为对称轴对称弯曲时，获取不同弯曲度下的待测点曲率K；从多个K中确定初始曲率K0、末端曲率K2及K0变化到K2之间的至少一个过渡曲率K1，K0和K2分别在目标丝材对称弯曲发生塑性变形之前和之后测得；采用X射线衍射法确定目标丝材的待测点于K0、K1和K2下的至少包括切向应力的应力；根据K0对应的待测点切向应力、K1对应的待测点切向应力以及K2对应的待测点切向应力之间的至少一项，确定目标丝材的韧性特征。本申请针对较细直径的丝材亦可精准表征丝材的韧性特征，以更全面、精确地评判丝材的质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117929429A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202410107676.4
申请日：2024-01-25
Applicant: 厦门钨业股份有限公司
IPC: G01N23/207 , G06F17/10
Abstract: 本发明公开了一种碳化钨粉末中晶粒抑制剂固溶量的评估方法，通过研究存在于碳化钨粉末中的碳化钨缺碳相、晶粒抑制剂与碳化钨缺碳相结合形成的固溶相以及WC相的晶格常数的变化，可以推导出晶粒抑制剂固溶量的变化，对后续工艺有指导意义：已固溶的晶粒抑制剂减少了后续工艺Co相中的晶粒抑制剂含量，理论上减弱了抑制效果，即晶粒抑制剂在碳化钨粉末中固溶量越大，后续工艺过程中的晶粒抑制剂的抑制效果越差。评价碳化钨粉末中晶粒抑制剂固溶量，有利于评估碳化钨粉末的制备工艺对固溶量的影响，有利于评估晶粒抑制剂对后续工艺的抑制效果，进而评估不同工艺制备的碳化钨粉末对后续工艺的影响，有利于更深入的表征粉末质量。
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公开(公告)号：CN115183925A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210732630.2
申请日：2022-06-24
Applicant: 厦门钨业股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种涂层残余应力的测试方法，涉及残余应力无损检测技术领域。本发明所述测试方法包括如下步骤：(1)利用X射线衍射法测定涂层中的物相及相应的晶体结构；(2)采用掠入射法获得衍射图谱；(3)采用Rietevield法进行全谱拟合，通过拟合得到的峰位偏差值计算所述涂层的残余应力。本发明所述测试方法简单，并且可以对复杂的应力状态进行分析，准确度较高。
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公开(公告)号：CN119715633A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411801302.9
申请日：2024-12-09
Applicant: 厦门钨业股份有限公司
IPC: G01N23/2055 , G01N23/207
Abstract: 本发明涉及性能测试技术领域，公开了一种石墨化度的表征方法、装置、设备、介质及程序产品，方法包括：获取对待测样品进行X射线扫描后的X射线衍射图谱；根据X射线衍射图谱中预设晶面所对应衍射峰确定目标峰位和目标半高宽；根据目标峰位和目标半高宽计算衍射峰的峰积比，以峰积比表征待测样品的石墨化度趋势。本发明能够将衍射峰的角度差异转换为峰积比，无需考虑精确峰位、分峰参数等，避免采用Mering‑Maire公式时的局限性，提高石墨度化趋势判断的准确性，从而保证产品质量控制或制造工艺参数调整的可靠性。
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公开(公告)号：CN113151804B
公开(公告)日：2023-06-20
申请号：CN202110437742.0
申请日：2021-04-22
Applicant: 厦门钨业股份有限公司 , 厦门金鹭特种合金有限公司
Abstract: 本发明涉及硬质合金切削工具技术领域，尤其涉及一种碳氮氧化钛涂层及其应用。碳氮氧化钛涂层包括：第一化合物层，第一化合物层中的化合物具有通式：Ti(Cx1Ny1Oz1)，x1+y1+z1＝1，0.02≤z1≤0.15；复合在第一化合物层上的第二化合物层，第二化合物层中的化合物具有通式：Ti(Cx2Ny2Oz2)，x2+y2+z2＝1，0.15
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公开(公告)号：CN115579073A
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202211101492.4
申请日：2022-09-09
Applicant: 厦门钨业股份有限公司
IPC: G16C20/20
Abstract: 本申请涉及一种相成分表征方法、装置、设备、存储介质和程序产品。获取待检测粉末中各相成分对应的晶格常数和相含量，根据各相成分对应的晶格常数、和预设的第一元素的原子占比与晶格常数之间的对应关系，确定各相成分中各元素的原子占比，然后根据各相成分中各元素的原子占比和各相成分的相含量，得到待检测粉末中各元素的质量占比；其中，待检测粉末为无限固溶体。该方法通过考虑待检测粉末中各相成分的晶格常数随着第一元素的原子占比的变化而变化，能够快速准确地计算出待检测粉末中各元素质量占比。
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