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公开(公告)号:CN118883305A
公开(公告)日:2024-11-01
申请号:CN202410955546.6
申请日:2024-07-17
Applicant: 厦门钨业股份有限公司
IPC: G01N3/20 , G01N3/02 , G01N23/207
Abstract: 本申请提供了一种丝材韧性评价方法及装置,涉及材料分析技术领域。该方法包括:在目标丝材以待测点切向方向的垂直线为对称轴对称弯曲时,获取不同弯曲度下的待测点曲率K;从多个K中确定初始曲率K0、末端曲率K2及K0变化到K2之间的至少一个过渡曲率K1,K0和K2分别在目标丝材对称弯曲发生塑性变形之前和之后测得;采用X射线衍射法确定目标丝材的待测点于K0、K1和K2下的至少包括切向应力的应力;根据K0对应的待测点切向应力、K1对应的待测点切向应力以及K2对应的待测点切向应力之间的至少一项,确定目标丝材的韧性特征。本申请针对较细直径的丝材亦可精准表征丝材的韧性特征,以更全面、精确地评判丝材的质量。
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公开(公告)号:CN119715633A
公开(公告)日:2025-03-28
申请号:CN202411801302.9
申请日:2024-12-09
Applicant: 厦门钨业股份有限公司
IPC: G01N23/2055 , G01N23/207
Abstract: 本发明涉及性能测试技术领域,公开了一种石墨化度的表征方法、装置、设备、介质及程序产品,方法包括:获取对待测样品进行X射线扫描后的X射线衍射图谱;根据X射线衍射图谱中预设晶面所对应衍射峰确定目标峰位和目标半高宽;根据目标峰位和目标半高宽计算衍射峰的峰积比,以峰积比表征待测样品的石墨化度趋势。本发明能够将衍射峰的角度差异转换为峰积比,无需考虑精确峰位、分峰参数等,避免采用Mering‑Maire公式时的局限性,提高石墨度化趋势判断的准确性,从而保证产品质量控制或制造工艺参数调整的可靠性。
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公开(公告)号:CN119688748A
公开(公告)日:2025-03-25
申请号:CN202411905430.8
申请日:2024-12-23
Applicant: 厦门钨业股份有限公司
IPC: G01N23/2055
Abstract: 本发明涉及一种核壳结构碳化钨粉末结晶程度表征方法、装置及计算机设备,其中核壳结构碳化钨粉末结晶程度表征方法包括:获取核壳结构碳化钨粉末的核部及壳部的X射线衍射图谱;确定X射线衍射图谱中的待分析物相及对应的衍射峰;判断待分析物相的衍射峰是否存在重叠峰区域;当待分析物相的衍射峰不存在重叠峰区域时,选取至少一个预设晶面衍射峰;分别获取待分析物相中每个预设晶面衍射峰的峰位和半高宽;根据每个预设晶面衍射峰的峰位和半高宽确定待分析物相的峰谷比。通过分别获取核壳结构碳化钨粉末的核部及壳部的X射线衍射图谱,以峰谷比定量表征核壳结构碳化钨粉末的核部和壳部的待分析相的结晶度。
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公开(公告)号:CN119470506A
公开(公告)日:2025-02-18
申请号:CN202411634640.8
申请日:2024-11-15
Applicant: 厦门钨业股份有限公司
IPC: G01N23/20008
Abstract: 本申请公开了一种用于XRD测试微区相成分的制样方法,属于XRD相成分检测技术领域。通过在待测样品的待测面覆盖选定的覆盖物,而后将待测样品的待测区域处的覆盖物刻蚀后仅暴露出待测样品的待测区域。这样,在采用X射线衍射仪对待测区域的相成分进行测试时,待测区域以外的待测面无衍射峰或与待测区域衍射峰不完全重叠,就可获得微米级待测区域的衍射峰图谱。本发明的方法使得微米级待测区域的相成分的XRD检测可以不受测量方式或仪器硬件条件的限制。
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