组合式光寻址电位传感器测试平台

    公开(公告)号:CN201993334U

    公开(公告)日:2011-09-28

    申请号:CN201020665767.3

    申请日:2010-12-17

    Applicant: 南开大学

    Abstract: 提供一种“组合式光寻址电位传感器(LAPS)测试平台”,包括主体框架1、光源控制器2、光源阵列插板3、LAPS芯片插板4、电极固定插板5、门板6,六个部分。LAPS芯片插板4的设计,采用了将LAPS芯片与储液空间合二为一的方法;光源阵列的设计,采用了将光源与光源控制器分离的方案;测试平台的组合方式,采用了插装的方式,将光源阵列插板3、LAPS芯片插板4、以及电极固定插板5通过主体框架1内插槽8、9、10,插装并固定在主体框架1内。本实用新型为LAPS提供液态电化学测试体系,解决了光源阵列与LAPS敏感单元阵列的匹配和对准问题。并且,当LAPS芯片的敏感单元阵列结构发生变化时,无须更改测试平台整体结构,满足LAPS对测试平台灵活性的要求。

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