公开(公告)号：CN119692144A

公开(公告)日：2025-03-25

申请号：CN202411835330.2

申请日：2024-12-13

Applicant: 南京信息工程大学

Inventor： 方乐程 ,  顾斌 ,  陈祥 ,  叶爽 ,  丁留贯

IPC: G06F30/25 ,  G16C20/30 ,  G16C20/70 ,  G06F18/241 ,  G06F18/2415 ,  G06F111/08 ,  G06F119/02

Abstract: 本发明公开了一种太阳质子事件导致航天电子器件发生单粒子翻转风险的分析评估方法，包括以下步骤：S1.建立航天电子器件靶材模型，计算目标器件SEU截面与质子能量关系；S2.分析航天器件在轨质子辐射环境要素，获取探测数据并计算SPE的辐射通量；S3.计算SPE发生过程导致的器件单粒子翻转的度量参数；S4.根据计算结果对SPE导致的SEU风险进行评估分级。采用Monte Carlo方法进行电子器件SEU截面计算，能够准确获得单能质子导致的器件敏感区的非弹性能量沉积事件。本申请能够准确有效地为航天器件的故障排查与信息纠错提供依据，并且能够直接应用于现有在轨航天器。