公开(公告)号：CN105868544A

公开(公告)日：2016-08-17

申请号：CN201610178708.5

申请日：2016-03-25

Applicant: 华北电力大学(保定)

Inventor： 谢庆 ,  黄河 ,  王幼男 ,  王涛 ,  胡志亮 ,  任洁 ,  付可欣 ,  徐玉琴

IPC: G06F19/00

CPC classification number: G06F19/00

Abstract: 本发明公开了一种三参数韦伯分布处理闪络电压分析绝缘材料性能的方法，包括以下步骤：采集n个闪络电压，按升序排列组建电压向量U，并赋予失效序数；建立三参数韦伯分布闪络电压概率模型；计算各失效序数下的闪络电压对应的累积闪络概率；拟合所述三参数韦伯分布闪络电压概率模型中的尺度参数、形状参数和位置参数；使用所述三参数韦伯分布闪络电压概率模型分析绝缘材料的性能。它采用三参数的韦伯分布处理闪络电压数据，计算闪络概率，与两参数相比更接近现实，拟合效果更好，准确度更高。并且在求取累计闪络概率时，利用失效等级概念，采用中位秩公式对失效等级进行修正，避免了因样本数量不足引起的结果偏差。并且计算简洁，运算速度快。可用于闪络电压预测，根据闪络概率要求确定绝缘设计标准。

公开(公告)号：CN105825527A

公开(公告)日：2016-08-03

申请号：CN201610178834.0

申请日：2016-03-25

Applicant: 华北电力大学(保定)

Inventor： 谢庆 ,  黄河 ,  陆路 ,  胡志亮 ,  王涛 ,  林浩凡 ,  付可欣 ,  律方成

IPC: G06T7/40

Abstract: 本发明公开了一种基于分形理论的绝缘材料闪络后表面微观形貌分析方法，包括以下步骤：步骤1：对绝缘材料进行闪络放电实验，获取所述绝缘材料的AFM表面形貌图；步骤2：将所述绝缘材料的AFM表面形貌图转换为灰度图像；所述灰度图像的尺寸为m×m；步骤3：用分形法或多重分形法对所述灰度图像进行处理，获取分形参数；步骤4：根据分形参数定量分析所述绝缘材料闪络后的表面微观形貌。本发明将灰度法、分形理论及AFM微观观测手段结合来分析绝缘材料闪络后的表面形貌，三者的优点得到充分发挥，分析结果更加有效、可靠。