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公开(公告)号：CN116026782A
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202211682743.2
申请日：2022-12-27
Applicant: 北京电子工程总体研究所
IPC: G01N21/3581 , G01N21/41
Abstract: 本发明公开了太赫兹波段物质介电特性测量系统及方法。涉及太赫兹波段物质探测技术领域。包括激光倍频单元、光学参量振荡器、超宽带太赫兹差频产生晶体、透射式测试平台、太赫兹强度探测装置和光谱数据采集处理装置。激光倍频单元用于出射具有预设波长的激光。光学参量振荡器可控的输出双波长差频泵浦光。超宽带太赫兹差频产生晶体输出差频太赫兹波。透射式平台用于承载具有不同预设厚度Li的测试样品。光谱数据采集处理装置内配置有测试样品的光谱强度确定模型、介电特性实部确定模型、介电特性虚部确定模型以及介电特性确定模型。光谱数据采集处理装置分别与太赫兹强度探测装置以及光学参量振荡器电连接。
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