Patent search ap:("北京智芯微电子科技有限公司") AND inv:"张晨慢" Page 1

1.

发明公开
测试板使用时长确定方法、装置及系统审中-实审

公开(公告)号：CN118330337A

公开(公告)日：2024-07-12

申请号：CN202410267548.6

申请日：2024-03-08

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 张晶晶 , 张学磊 , 原义栋 , 胡毅 , 张晨慢 , 于景意

IPC: G01R31/00 , G01R31/28

Abstract: 本申请公开了一种测试板使用时长确定方法、装置及系统，方法包括：获取测试板在每次HTOL测试时的工作参数；根据测试板在每次HTOL测试时的工作参数确定测试板在每次HTOL测试时处于高温供电状态的时长、处于高温未供电状态的时长及处于供电非高温状态的时长；根据测试板在每次HTOL测试时处于高温供电状态的时长、处于高温未供电状态的时长及处于供电非高温状态的时长确定测试板的累计使用时长。本申请公开的上述技术方案，基于测试板的实际工作参数确定测试板的累计使用时长，以提高测试板累计使用时长确定的准确性和可靠性，从而便于在合适时刻对测试板进行更换，以提高测试板利用率，降低HTOL测试成本。

Patent Agency Ranking