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公开(公告)号：CN118897810B
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411401823.5
申请日：2024-10-09
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F11/3668 , G06F11/22
Abstract: 本申请公开了一种集成多款芯片的操作系统测试方法、装置及系统，属于芯片测试技术领域。方法包括：接收用户在测试脚本的运行面板的输入数据；测试脚本用于针对至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片进行测试；根据输入数据选择测试的目标芯片；使用测试脚本采用目标命令参数集对目标芯片的操作系统进行测试。本申请通过为至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片建立相同的测试脚本，通过改变输入数据和命令参数对不同芯片进行测试，实现了单一的测试流程对多种芯片的集成测试，并且不同芯片之间还能够进行数据交互，通过修改命令参数的值即可不同命令参数的测试，无需针对每个命令参数测试编写代码，减少了代码冗余，提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN112073198A
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN202010803342.2
申请日：2020-08-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
Abstract: 本发明公开了一种用电信息采集系统及其电表的内部认证方法、终端，方法包括：终端向电表发送电表内部认证指令，该认证指令包括电表内部认证标识、第一密钥索引、第二密钥索引和数据报文，数据报文包括认证数据；终端接收电表发送的响应报文，响应报文包括电表利用第一密钥索引对认证数据进行加密生成的第一数据密文；终端利用第一密钥索引对认证数据进行加密生成第二数据密文，并判断第二数据密文与第一数据密文是否相同，如果相同，则判定电表为合法电表。由此，通过终端下发、计算电表的内部认证指令，以完成电表的合法性认证，有效节省了主站与电表之间的交流过程，充分发挥终端的中间作用，不仅提高了认证效率，也提高了认证的执行率。
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公开(公告)号：CN112052184A
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN202011049951.X
申请日：2020-09-29
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开一种测试脚本的自动生成方法，应用于芯片操作系统，该方法包括：判断是否获取到所有输入内容中的所有内容信息，内容信息包括目录结构信息、指令列表信息、共用函数信息、配置信息以及脚本模板信息；在确定获取到所有内容信息情况下，获取开发需求信息，基于开发需求信息生成结构创建脚本，结构创建脚本用于生成待测试文件结构；基于指令列表信息创建指令测试脚本集和公共脚本集；基于指令列表信息生成与指令测试脚本集对应的指令测试脚本，以及基于指令列表信息生成与公共脚本集对应的公共脚本；将待测试文件结构、指令测试脚本和公共脚本存储于脚本模板信息，生成芯片操作系统的测试脚本。本发明还公开一种测试脚本的自动生成装置。
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公开(公告)号：CN112118223B
公开(公告)日：2023-06-20
申请号：CN202010802177.9
申请日：2020-08-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
Abstract: 本发明公开了一种主站与终端的认证方法、主站、终端及存储介质，方法包括：主站向终端发起会话密钥协商获得第一会话密钥；主站向终端发送第一认证报文，其包括第一认证标识、第一非对称密钥索引、第一对称密钥索引和第一数据报文，第一数据报文包括主站生成的第一随机数和主站利用第一会话密钥对第一随机数进行加密生成的第一加密密文；主站接收终端发送的第一认证响应报文，其包括终端利用第一非对称密钥索引对第一随机数和终端生成的第二随机数进行数字签名生成的第一签名信息；主站验证第一签名信息的正确性，并在验证通过后完成对终端的认证。由此，采用对称与非对称加密算法相结合的方式进行主站与终端之间的认证，安全性高。
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公开(公告)号：CN115048317B
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210978814.7
申请日：2022-08-16
Applicant: 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括：在目标空间的物理存储页中创建一个能够完全占用对应的物理存储页的预设对象，目标空间为Java卡的存储空间的至少部分，目标空间包括多个物理存储页；创建预设事务以对部分预设对象的内容进行更新；根据预设事务在提交后的执行情况，确定Java卡对被更新的内容的测试参数；根据测试参数确定测试结果。上述测试方法，通过在Java卡内创建多个预设对象占用空间，并创建预设事务以部分更新每个预设对象的方式来创造测试环境，根据预设事务的执行情况得到的测试参数得到测试结果，从而以测试结果来确定Java卡的事务保护能力，进而可评估Java卡的技术竞争力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108667151A
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：CN201810490898.3
申请日：2018-05-21
Applicant: 重庆大学 , 国网浙江省电力公司宁波供电公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
Inventor： 唐春森 , 张杨 , 吴新刚 , 王智慧 , 孙跃 , 左志平 , 谭若兮 , 王州波 , 钟良亮 , 罗飞鹏 , 刘羽 , 周斌 , 闻铭 , 许巍 , 田阳 , 王天响 , 程志国 , 康世利
Abstract: 本发明属于无线能量传输技术领域，提供了一种基于凹凸磁芯的无线能量发射机构及其参数设计方法，机构包括磁芯和线圈，磁芯由多块铁氧体磁条按环形阵列分布而成，在每一块磁条的上表面设有两段凹凸部，多块磁条按环形阵列分布后，其凹凸部围成两圈环形的线圈容置槽，所述线圈分为两组并按照平面密绕的方式分别绕制在两圈线圈容置槽中，且内、外两组线圈相互串联。通过仿真软件分析得知，该结构能实现在相同的感应电压条件下，互感另一端的横向抗偏移能力、纵向传输距离显著优于现有电磁耦合机构，提升无线能量传输系统对横向、纵向偏移容忍度。
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公开(公告)号：CN120033187A
公开(公告)日：2025-05-23
申请号：CN202510401419.6
申请日：2025-04-01
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: H01L25/16 , H01L23/538 , H01L23/498 , H01L23/31 , H01L23/29 , H01L21/56 , H01L21/60
Abstract: 本发明涉及芯片封装技术领域，公开了一种多芯片组件封装结构及封装方法，包括基板，具有第一表面和第二表面；第一芯片设置于基板的第一表面上，第一芯片与基板电性连接；第二芯片设置于第一芯片远离基板的表面，第二芯片与基板电性连接；多个LED芯片设置于基板的第一表面，多个LED芯片分布于第一芯片的两侧，LED芯片与第二芯片电性连接；防护层覆盖在第一芯片、第二芯片以及多个LED芯片表面，本发明布局合理，提高了焊接质量与稳定性，减少装配错误，节省空间，提高生产效率和准确性，保证了封装器件合格的机械强度和外观整洁。
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公开(公告)号：CN119415342A
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202411332643.6
申请日：2024-09-24
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司营销服务中心
IPC: G06F11/26 , G06F11/273
Abstract: 本申请公开了一种掉电测试电路及系统，属于硬件测试技术领域。掉电测试电路包括：多个接口，具有多种总线标准；多个输出电压控制电路，配置为提供多种输出电压，各输出电压控制电路与各接口对应电连接；电源电路，与各输出电压控制电路电连接，且配置为将接入电源转换为各输出电压控制电路所需的供电电压；主控芯片，与各输出电压控制电路电连接，且配置为根据目标上电时间信息和目标掉电时间信息控制各输出电压控制电路上电或掉电。
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公开(公告)号：CN118897810A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202411401823.5
申请日：2024-10-09
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本申请公开了一种集成多款芯片的操作系统测试方法、装置及系统，属于芯片测试技术领域。方法包括：接收用户在测试脚本的运行面板的输入数据；测试脚本用于针对至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片进行测试；根据输入数据选择测试的目标芯片；使用测试脚本采用目标命令参数集对目标芯片的操作系统进行测试。本申请通过为至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片建立相同的测试脚本，通过改变输入数据和命令参数对不同芯片进行测试，实现了单一的测试流程对多种芯片的集成测试，并且不同芯片之间还能够进行数据交互，通过修改命令参数的值即可不同命令参数的测试，无需针对每个命令参数测试编写代码，减少了代码冗余，提高了测试效率。
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公开(公告)号：CN118312372B
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202410744647.9
申请日：2024-06-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 内蒙古电力(集团)有限责任公司电能计量分公司
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明提供一种固态硬盘异常掉电测试方法、系统及装置，属于硬盘测试技术领域。固态硬盘异常掉电测试方法包括：获取配置策略，并基于配置策略，生成掉电协议报文，配置策略包括与各个待测固态硬盘对应的掉电策略；执行测试脚本，并在执行测试脚本到达预设的掉电测试点时，根据掉电协议报文，对各个待测固态硬盘进行掉电控制；在完成对各个待测固态硬盘进行掉电控制之后，查询得到各个待测固态硬盘当前状态；基于各个待测固态硬盘当前状态，得到异常掉电测试结果。通过采用协议报文控制待测固态硬盘异常掉电测试，能够提供一对多的固态硬盘掉电测试，无需增加更多设备，成本更低，测试效率提升不依赖于设备的增加。
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