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公开(公告)号:CN104569960A
公开(公告)日:2015-04-29
申请号:CN201410800283.8
申请日:2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S13/06
CPC classification number: G01S7/41
Abstract: 本发明公开一种双站雷达目标特性测量同步散射点区域确定方法,包括在暗室中建立三维直角坐标系;在三维直角坐标系中确定发射天线和接收天线所在位置;以发射天线和接收天线所在位置作为焦点,分别以测试区中任意一点离发射天线和接收天线的距离之和的最大及最小值作为椭圆的长轴长度,在暗室中构建两个椭球面;两个椭球面及两椭球面之间的空间即为同步散射点区域。该方法可快速找到暗室内发射天线到同步散射点部位的距离与该部位到接收天线的距离之和与发射天线到待测目标的距离与待测目标到接收天线的距离之和相等的同步散射点最大区域。
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公开(公告)号:CN104535858A
公开(公告)日:2015-04-22
申请号:CN201410796746.8
申请日:2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开一种紧缩场天线测量同步反射点区域确定方法,包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系;在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置;根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置;以紧缩场馈源所在位置和待测天线所在测试区内的离紧缩场反射面水平方向最近和最远的位置点作为焦点,以紧缩场馈源经紧缩场反射面到测试区的距离的最小和最大值为长轴长度,在紧缩场暗室中构建两个椭球面;两个椭球面及两椭球面之间的空间即为同步反射点区域。通过对这些区域添加高性能的吸波材料或移去这些干扰反射源,减小这些区域反射对待测目标反射信号测量精度的影响。
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公开(公告)号:CN104535858B
公开(公告)日:2017-11-28
申请号:CN201410796746.8
申请日:2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开一种紧缩场天线测量同步反射点区域确定方法,包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系;在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置;根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置;以紧缩场馈源所在位置和待测天线所在测试区内的离紧缩场反射面水平方向最近和最远的位置点作为焦点,以紧缩场馈源经紧缩场反射面到测试区的距离的最小和最大值为长轴长度,在紧缩场暗室中构建两个椭球面;两个椭球面及两椭球面之间的空间即为同步反射点区域。通过对这些区域添加高性能的吸波材料或移去这些干扰反射源,减小这些区域反射对待测目标反射信号测量精度的影响。
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公开(公告)号:CN104597331A
公开(公告)日:2015-05-06
申请号:CN201410800313.5
申请日:2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种紧缩场天线测量同步反射点位置识别方法,包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系;在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置;根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置;以紧缩场馈源所在位置和处于测试区内的待测天线所在位置为焦点,以紧缩场馈源经紧缩场反射面到到处于测试区任意位置的待测天线的传播路径长为长轴长度,在紧缩场暗室中构建一个椭球面;椭球面与紧缩场暗室各面及紧缩场暗室内部空间物体的交汇处即为同步反射点位置。该方法快速的找到紧缩场内反射信号与直射波信号同时到达接收天线的同步反射点位置。
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