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公开(公告)号：CN105092985B
公开(公告)日：2019-01-25
申请号：CN201510486271.7
申请日：2015-08-10
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R27/28
Abstract: 本发明公开一种基于锁相放大器的衰减参数测量装置，该装置包括射频信号源、激励信号输入端、衰减信号输入端、本振源、混频器、程控步进标准衰减器和锁相放大器。本方案通过采用射频串联和低中频串联替代相结合的方法对系统进行改进，引入锁相放大器相关检测的方法，使用锁相放大器作为中频接收装置，从微弱信号中提取出有用信号，消除周围环境的噪声干扰对衰减测量的影响；通过本方案最大限度的压缩带宽、抑制噪声，使得系统的测量准确度和动态范围都有大幅提高，从而解决了在测量大衰减量过程中各类噪声的干扰问题。
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公开(公告)号：CN105092985A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201510486271.7
申请日：2015-08-10
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R27/28
Abstract: 本发明公开一种基于锁相放大器的衰减参数测量装置，该装置包括射频信号源、激励信号输入端、衰减信号输入端、本振源、混频器、程控步进标准衰减器和锁相放大器。本方案通过采用射频串联和低中频串联替代相结合的方法对系统进行改进，引入锁相放大器相关检测的方法，使用锁相放大器作为中频接收装置，从微弱信号中提取出有用信号，消除周围环境的噪声干扰对衰减测量的影响；通过本方案最大限度的压缩带宽、抑制噪声，使得系统的测量准确度和动态范围都有大幅提高，从而解决了在测量大衰减量过程中各类噪声的干扰问题。
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公开(公告)号：CN104155527A
公开(公告)日：2014-11-19
申请号：CN201410367101.2
申请日：2014-07-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明公开一种X波段准光腔材料的测定方法，该测定方法包括如下步骤：1)根据准光腔腔体材质或镀层材质确定趋肤深度；2)根据准光腔品质因数和趋肤深度Q确定腔长D取值范围；3)根据准光腔曲率因子和本征谱线纯度确定球面镜曲率半径R取值范围；4)确定准光腔球面镜口径A1为350mm；5)确定准光腔平面镜直径A2为250mm；6)确定准光腔的信号耦合性，所述准光腔的球面镜顶端与耦合波导的底端固定连接。该测量方法简单便捷，测量准确度较高。
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公开(公告)号：CN103913135A
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN201210592114.0
申请日：2012-12-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01B15/00
Abstract: 本发明涉及一种计量标准用同轴空气线长度的确定方法，该方法包括如下步骤。第一步：确定偏置开路终端内导体的长度。第二步：确定激励信号波长。第三步：确定同轴空气线长度。本方法可以避开测量偏置开路终端内导体实际物理长度的技术难题，将偏置开路终端的阻抗特性间接溯源至物理参数几何尺寸。
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公开(公告)号：CN103701538A
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201310714632.X
申请日：2013-12-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明涉及一种用于波导系统的衰减测量方法，该衰减测量方法包括将被测衰减器与混频器和已知衰减装置串联连接；将射频信号经过被测衰减器产生衰减的射频信号；将被衰减的信号和与所述射频信号共时基的本振信号混频；以串联中频替代的方法步骤，将经分频的时基信号作为参考信号，采用正交相关检测法测量被测衰减器的衰减量。根据本发明所述方法可实现对3mm、5mm频段毫米波衰减的测量，且方法简单、成本低廉，同时解决了锁相放大器的微弱信号检测问题，提高系统检测的灵敏度及准确度。因此本发明不仅适用于50GHz～110GHz毫米波衰减测量系统，也适用于其它频段衰减测量系统。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105388363B
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201510683127.2
申请日：2015-10-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种高温环境下材料介电常数的获取系统及方法，该方法包括如下步骤：S1、不启动高温箱，对高温环境下材料介电常数的获取系统进行校准，并获取常温环境下收、发天线间的直通S参数；S2、将待测材料放入测量夹具中并利用高温箱加热使待测材料处于高温环境中，测量高温环境下待测材料的S参数，并根据常温环境下的直通S参数修正高温环境下待测材料的S参数的高温误差；S3、对高温误差修正后待测材料的S参数进行相位修正，得到传输相位修正后的待测材料的S参数；S4、根据传输相位修正后的待测材料的S参数计算并获取待测材料介电常数。本发明所述技术方案可在室温～1500℃温度范围获取准确可靠的材料介电常数。
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公开(公告)号：CN102752061B
公开(公告)日：2014-09-03
申请号：CN201210198892.1
申请日：2012-06-14
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明涉及毫米波衰减测量系统锁相放大器参考信号产生装置及方法，该装置包括依次连接的毫米波信号源、第一隔离衰减器、第二隔离衰减器、毫米波谐波混频器、第一中频放大器、带通滤波器、中频基波混频器、第二中频放大器、感应分压器，所述感应分压器还分别连接有锁相放大器和第三中频放大器，该中频放大器的输出端连接至所述锁相放大器的输入端。本发明参考信号产生装置及产生方法能确保锁相放大器的测量准确度，同时该装置中只需一个毫米波混频器就能完成参考信号的产生，大大降低了毫米波衰减测量系统的成本。
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公开(公告)号：CN101788610B
公开(公告)日：2011-09-28
申请号：CN201010109120.7
申请日：2010-02-11
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种同轴阻抗标准器的定标方法，包括第一步：测量几何量，第二步：计算趋肤效应的影响量，第三步：计算阶越电容的影响量，第四步：计算偏心量的影响量，第五步：计算特性阻抗，第六步：计算修正后的特性阻抗标准值。本发明除了考虑同轴无支撑精密空气线的外导体内径和内导体外径外，还将内外导体的偏心、阶越电容、趋肤效应等因素的影响量给予修正，有效的提高了同轴阻抗标准器的定标准确度。
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公开(公告)号：CN101788610A
公开(公告)日：2010-07-28
申请号：CN201010109120.7
申请日：2010-02-11
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种同轴阻抗标准器的定标方法，包括第一步：测量几何量，第二步：计算趋肤效应的影响量，第三步：计算阶越电容的影响量，第四步：计算偏心量的影响量，第五步：计算特性阻抗，第六步：计算修正后的特性阻抗标准值。本发明除了考虑同轴无支撑精密空气线的外导体内径和内导体外径外，还将内外导体的偏心、阶越电容、趋肤效应等因素的影响量给予修正，有效的提高了同轴阻抗标准器的定标准确度。
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公开(公告)号：CN103605033B
公开(公告)日：2016-05-18
申请号：CN201310631717.1
申请日：2013-11-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及X波段天线的跨频段电磁特性测量装置及测量方法，所述电磁特性测试装置包括：分别连接第一和第二X波段天线的测试夹具，所述第一和第二X波段天线分别通过第一和第二X波段波导同轴转接器连接第一和第二电缆，所述第一和第二电缆通过网络分析仪及校准件连接。该装置及方法能将多套系统简化成一套宽带测试系统，有效降低成本。
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