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公开(公告)号：CN107765204A
公开(公告)日：2018-03-06
申请号：CN201710840973.X
申请日：2017-09-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种电流探头校准夹具，包括N型接头、侧面板、顶面板、中心导体和匹配段导体；所述匹配段导体包括匹配段外导体和匹配段内导体，所述匹配段外导体固定在所述侧面板外侧中央，所述匹配段内导体位于所述匹配段外导体内部中心；所述中心导体位于夹具中心，与所述匹配段内导体可拆卸同轴连接；所述顶面板垂直可拆卸连接在侧面板内侧边缘，与侧面板共同构成夹具框架；N型接头固定连接在所述匹配段外导体上，用于接收标准电流信号；所述校准夹具为对称结构，两侧采用相同结构。本发明解决了传统夹具结构无法满足环形闭合电流探头校准需求，适用于不同尺寸的探头，具有良好的通用性，提高电流探头校准工作的效率。
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公开(公告)号：CN102841263B
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：CN201210308623.6
申请日：2012-08-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的装置，该装置包括支撑架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4)；所述支撑架(1)包括底座(11)、转轴(12)、主体架(13)、第一旋转盘(14)、第二旋转盘(15)、第一探头固定装置(16)和第二探头固定装置(17)；所述第一探头(3)固定于第一探头固定装置(16)上，所述第二探头(4)固定于所述第二探头固定装置(17)上，所述第一探头(3)和所述第二探头(4)与所述示波器(2)电连接；所述底座(11)包括固定盘(111)、第一座臂(112)和第二座臂(113)；所述主体架(13)包括测试杆(131)、第一支杆(132)、第二支杆(133)、第一立柱(134)和第二立柱(135)。所述装置对瞬变电磁场场均匀性的校准速度明显加快。所述装置对瞬变电磁场场均匀性的校准精度高。
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公开(公告)号：CN102830291B
公开(公告)日：2014-07-23
申请号：CN201210309319.3
申请日：2012-08-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的系统，该系统包括支架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4)，支架(1)包括底座(11)、角度调节装置(12)和测试杆(13)，第一探头(3)和第二探头(4)分别固定于测试杆(13)的中间和自由端位置，且第一探头(3)和第二探头(4)与示波器(2)电连接；底座(11)包括两个支撑臂(111)和固定盘(114)，两个支撑臂(111)互成90度角与固定盘(114)固接，每个支撑臂(111)靠近固定盘(114)的一端设有凸起(112)，固定盘(114)的中心设有转轴(115)；角度调节装置(12)安装在转轴(115)上且能够绕转轴(115)转动，角度调节装置(12)的一端与测试杆(13)的一端连接。所述系统对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置的要求低，能够快速、准确地对瞬变电磁场的场均匀性进行校准。
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公开(公告)号：CN102840429B
公开(公告)日：2014-06-18
申请号：CN201210308641.4
申请日：2012-08-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的新型支架，该支架包括支撑杆(1)、定位环(2)、旋转盘(3)、旋钮(4)和测试杆(5)，定位环(2)设于支撑杆(1)的顶端，定位环(2)的内周侧设有多个凹槽(21)，定位环(2)的中心设有至少一个连接键(22)，每个连接键(22)的一端与旋钮(4)固接，每个连接键(22)的另一端与定位键(23)铰接，旋转盘(3)的一侧设有外径小于定位环(2)内径的凸缘(31)，凸缘(31)上设有与定位键(23)配合的缺口(32)，旋转盘(3)的中心设有转轴(33)，凸缘(31)穿进定位环(2)，且定位键(23)能够穿过缺口(32)，旋钮(4)安装于转轴(33)上，且旋钮(4)能够绕转轴(33)转动，测试杆(5)固接于旋转盘(4)的一侧。当校准瞬变电磁场的场均匀性的系统中采用所述支架时，能够使校准速度明显加快。
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公开(公告)号：CN102840427B
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201210308587.3
申请日：2012-08-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，该支架包括底座(1)、转轴(2)、圆拱形的第一拱衬(31)、圆拱形的第二拱衬(32)、第一测试杆(41)、第二测试杆(42)、第一旋钮(51)、第二旋钮(52)、第一探头固定装置(61)和第二探头固定装置(62)。当校准瞬变电磁场的场均匀性的系统中采用所述支架时，所述支架不仅能够用于支撑和固定探头，而且能够用于调节探头的位置和角度。所述支架对探头的位置和角度的调节精度高。所述支架制作成本低，使用方便。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103645455A
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：CN201310705549.6
申请日：2013-12-19
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种探头校准装置，该校准装置包括定位基准盘、第一校准支架和第二校准支架；第一校准支架包括第一支撑底盘、一端设置在第一支撑底盘上的第一支撑柱和设置在第一支撑柱另一端的第一测量组件；第二校准支架包括第二支撑底盘、一端设置在第二支撑底盘上的第二支撑柱和设置在第二支撑柱另一端的第二测量组件；定位基准盘通过第一连接板与第一校准支架连接，第一连接板一端与定位基准盘铰接，另一端与第一支撑底盘固定连接；第一校准支架通过第二连接板与第二校准支架连接，第二连接板的一端与第一支撑底盘铰接，另一端与第二支撑底盘铰接。通过简单的旋转移动即可调整探头位置，从而提高测试精度，工作效率。
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公开(公告)号：CN103115639A
公开(公告)日：2013-05-22
申请号：CN201310028676.7
申请日：2013-01-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01D11/16
Abstract: 一种基准定位器，包括定位连接盘A和定位连接盘B；定位连接盘A和定位连接盘B之间的夹角为90度；所述定位连接盘A下表面固设有磁铁A；所述定位连接盘B下表面固设有磁铁B;所述定位连接盘A和定位连接盘B之间通过弧形连接桥连接；所述定位连接盘A上设有基准边A;所述定位连接盘B上设有基准边B;所述基准边A和基准边B之间的夹角呈90度。本发明可进行基准点及整个测试方位的定位；可为外围测试装置提供定位基准及连接装置；可进行快速定位，提高测试工作效率；成本低，结构简单，携带方便。
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公开(公告)号：CN102841263A
公开(公告)日：2012-12-26
申请号：CN201210308623.6
申请日：2012-08-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的装置，该装置包括支撑架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4)；所述支撑架(1)包括底座(11)、转轴(12)、主体架(13)、第一旋转盘(14)、第二旋转盘(15)、第一探头固定装置(16)和第二探头固定装置(17)；所述第一探头(3)固定于第一探头固定装置(16)上，所述第二探头(4)固定于所述第二探头固定装置(17)上，所述第一探头(3)和所述第二探头(4)与所述示波器(2)电连接；所述底座(11)包括固定盘(111)、第一座臂(112)和第二座臂(113)；所述主体架(13)包括测试杆(131)、第一支杆(132)、第二支杆(133)、第一立柱(134)和第二立柱(135)。所述装置对瞬变电磁场场均匀性的校准速度明显加快。所述装置对瞬变电磁场场均匀性的校准精度高。
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公开(公告)号：CN103115639B
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201310028676.7
申请日：2013-01-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01D11/16
Abstract: 一种基准定位器，包括定位连接盘A和定位连接盘B；定位连接盘A和定位连接盘B之间的夹角为90度；所述定位连接盘A下表面固设有磁铁A；所述定位连接盘B下表面固设有磁铁B;所述定位连接盘A和定位连接盘B之间通过弧形连接桥连接；所述定位连接盘A上设有基准边A;所述定位连接盘B上设有基准边B;所述基准边A和基准边B之间的夹角呈90度。本发明可进行基准点及整个测试方位的定位；可为外围测试装置提供定位基准及连接装置；可进行快速定位，提高测试工作效率；成本低，结构简单，携带方便。
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公开(公告)号：CN102830293B
公开(公告)日：2014-11-12
申请号：CN201210309485.3
申请日：2012-08-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开了一种快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法及系统，该方法包括如下步骤：选定矩形校准平面的顶点为测量点；将转轴(2)置于校准平面的中心，通过调节定位装置(4)使得测试杆(3)被限定在校准平面内，通过选择测试杆(3)的长度使得探头(6)能够到达校准平面的各顶点处；在校准平面内转动测试杆(3)，使得探头(6)分别位于校准平面的各顶点处，通过探头(6)测量得到校准平面的各顶点处的场强值。所述方法及系统不需要频繁移动用于支撑和固定探头的支架的位置，并且支架的位置固定后，也不需要反复调整探头在支架上的具体位置和角度。所述方法及系统的校准过程简便，校准速度快，校准耗时短。
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