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公开(公告)号：CN109459192B
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN201811484865.4
申请日：2018-12-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01M3/20
Abstract: 本发明涉及一种基于比较法校准正压漏孔的分子流进样系统及控制方法，提出基于动态分子流进样方法和累积分子流进样方法相结合的示漏气体进样系统和方法，在漏孔泄漏的气体累积一段时间后，在一套比较法正压漏孔校准系统上、实现了动态比较和累积比较两种质谱分析方法的分子流进样，突破了比较法校准正压漏孔质谱分析进样的关键技术，并且解决了累积法条件下、正压漏孔校准过程中混合气体分子流进样和微量He气累积测量的技术难题。
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公开(公告)号：CN109443653B
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN201811431861.X
申请日：2018-11-28
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01M3/20
Abstract: 本发明一种微小漏率正压漏孔校准的气体取样系统及方法，包括分子泵抽气系统、氦气瓶、氮气瓶、气体采样阀门、气体取样室、气体膨胀室、气体累积室、第一第二真空计、第一至第七真空阀门及恒温箱；分子泵抽气系统通过第一真空阀门、且氦气瓶的出气口与第二真空阀门的一端连接，其另一端通过气体取样室与气体采样阀门入口连接且出口通过第四、第三真空阀门与分子泵抽气系统连接，并分别与第二真空计、第五第六第七真空阀门的一端连接；第五真空阀门的另一端与气体膨胀室相连接，且第六真空阀门另一端通过气体累积室与被校正压漏孔连接；第七真空阀门另一端与质谱分析系统连接。本发明缩短了示漏气体累积时间、减小了示漏气体累积和取样精度的影响。
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公开(公告)号：CN109443653A
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201811431861.X
申请日：2018-11-28
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01M3/20
Abstract: 本发明一种微小漏率正压漏孔校准的气体取样系统及方法，包括分子泵抽气系统、氦气瓶、氮气瓶、气体采样阀门、气体取样室、气体膨胀室、气体累积室、第一第二真空计、第一至第七真空阀门及恒温箱；分子泵抽气系统通过第一真空阀门、且氦气瓶的出气口与第二真空阀门的一端连接，其另一端通过气体取样室与气体采样阀门入口连接且出口通过第四、第三真空阀门与分子泵抽气系统连接，并分别与第二真空计、第五第六第七真空阀门的一端连接；第五真空阀门的另一端与气体膨胀室相连接，且第六真空阀门另一端通过气体累积室与被校正压漏孔连接；第七真空阀门另一端与质谱分析系统连接。本发明缩短了示漏气体累积时间、减小了示漏气体累积和取样精度的影响。
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公开(公告)号：CN103308928B
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201310196347.3
申请日：2013-05-24
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01S19/23
Abstract: 本发明提供的一种卫星导航信号模拟器伪距精度的测量系统，能够满足任意伪距量值范围的测量要求，测量准确度高，满足卫星导航信号模拟器伪距精度指标的校准和检定要求。本发明的测量系统包括卫星导航信号模拟器、周期性校准信号同步发生装置、时域分析仪器、周期计数仪器及周期测量仪器；模拟器射频仿真信号的输出端连接时域分析仪器的第一通道，周期性校准信号同步发生装置的输出端连接时域分析仪器的第二通道以及时域分析仪器的外触发端口，周期性校准信号同步发生装置的输出端还连接周期计数仪器及周期测量仪器的输入端。
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公开(公告)号：CN103310671A
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN201310196370.2
申请日：2013-05-24
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G09B9/00
Abstract: 本发明提供的计量检定实际操作模拟设备，针对电子设备计量检定的实际操作培训和考核，采用模拟源和模拟表代替真实源和真实表，分别作为标准设备和被检设备，降低了计量检定人员实际操作的培训考核成本，同时达到了与使用真实设备系统完全一样的效果。包括模拟源和模拟表，模拟源和模拟表通过数字信号传输线相互连接；模拟源包括源显示面板、源按键面板、源CPU以及数据发送模块，源CPU分别连接源显示面板、源按键面板以及数据发送模块，模拟表包括表显示面板、表按键面板、表CPU以及数据接收模块，表CPU分别连接表显示面板、表按键面板以及数据发送模块。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108982021A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201810772049.7
申请日：2018-07-13
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01M3/20
Abstract: 本发明是一种下限为10-10Pam3/s的正压漏孔校准系统与方法，该系统包括：分子泵抽气系统、一个高纯氦气瓶、一个高纯氮气瓶、一个气体采样阀门(V4)、十个真空阀门(V1，V2，V3，V5，V6，V7，V8，V9，V10，V11)、三个真空室(VC1，VC2，VC3)、三个真空计(G1，G2，G3)、一个四极质谱仪(G4)、一个分子流进样元件(C)、一个吸气剂泵(NEG)、一个被校正压漏孔和一个恒温箱。
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公开(公告)号：CN103310671B
公开(公告)日：2016-02-10
申请号：CN201310196370.2
申请日：2013-05-24
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G09B9/00
Abstract: 本发明提供的计量检定实际操作模拟设备，针对电子设备计量检定的实际操作培训和考核，采用模拟源和模拟表代替真实源和真实表，分别作为标准设备和被检设备，降低了计量检定人员实际操作的培训考核成本，同时达到了与使用真实设备系统完全一样的效果。包括模拟源和模拟表，模拟源和模拟表通过数字信号传输线相互连接；模拟源包括源显示面板、源按键面板、源CPU以及数据发送模块，源CPU分别连接源显示面板、源按键面板以及数据发送模块，模拟表包括表显示面板、表按键面板、表CPU以及数据接收模块，表CPU分别连接表显示面板、表按键面板以及数据发送模块。
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公开(公告)号：CN109323817A
公开(公告)日：2019-02-12
申请号：CN201811090584.0
申请日：2018-09-13
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01M3/20
Abstract: 本发明是一种下限为10-16 Pam3/s的超灵敏度检漏装置及方法。该检漏装置包括干泵(RP1)、分子泵(TMP1)、吸气剂泵(NEG1)、真空规(G1)、四级质谱计(QMS)、第一至第五真空阀门、检测室(VC1)、固定流导法流量计(FM)、气源、真空管道。本发明基于累积比较的方法，采用固定流导法流量计提供下限为1.3×10-16 Pam3/s的标准气体流量，从而将检漏装置的检漏下限延伸至10-16Pam3/s。
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公开(公告)号：CN103308928A
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN201310196347.3
申请日：2013-05-24
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01S19/23
Abstract: 本发明提供的一种卫星导航信号模拟器伪距精度的测量系统，能够满足任意伪距量值范围的测量要求，测量准确度高，满足卫星导航信号模拟器伪距精度指标的校准和检定要求。本发明的测量系统包括卫星导航信号模拟器、周期性校准信号同步发生装置、时域分析仪器、周期计数仪器及周期测量仪器；模拟器射频仿真信号的输出端连接时域分析仪器的第一通道，周期性校准信号同步发生装置的输出端连接时域分析仪器的第二通道以及时域分析仪器的外触发端口，周期性校准信号同步发生装置的输出端还连接周期计数仪器及周期测量仪器的输入端。
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公开(公告)号：CN109459192A
公开(公告)日：2019-03-12
申请号：CN201811484865.4
申请日：2018-12-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01M3/20
Abstract: 本发明涉及一种基于比较法校准正压漏孔的分子流进样系统及控制方法，提出基于动态分子流进样方法和累积分子流进样方法相结合的示漏气体进样系统和方法，在漏孔泄漏的气体累积一段时间后，在一套比较法正压漏孔校准系统上、实现了动态比较和累积比较两种质谱分析方法的分子流进样，突破了比较法校准正压漏孔质谱分析进样的关键技术，并且解决了累积法条件下、正压漏孔校准过程中混合气体分子流进样和微量He气累积测量的技术难题。
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