单光子探测器量子效率校准装置和方法

    公开(公告)号:CN115200724B

    公开(公告)日:2025-05-16

    申请号:CN202210770298.9

    申请日:2022-06-30

    Abstract: 本发明提供一种单光子探测器量子效率校准装置和方法,涉及单光子探测技术领域。单光子探测器量子效率校准装置包括:脉冲激励源,用于产生激励脉冲;单光子源,在激励脉冲的激励下能够发出具有特定波长的单光子辐射;光子收集器,包括显微物镜,用于接收单光子辐射并成像;标准单光子探测器,用于和待测单光子探测器交替置于光子收集器的成像点位置,以使单光子辐射能够分别照射到标准单光子探测器和待测单光子探测器的光敏面,且标准单光子探测器的单光子探测量子效率经过标定。本发明的单光子探测器量子效率校准装置和方法,通过将单光子源作为标准定标光源,利用单光子源的单光子特性,实现准确校准单光子探测器的量子效率,校准准确度高。

    发射率测量方法、装置、系统、设备及介质

    公开(公告)号:CN118836986A

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202411058545.8

    申请日:2024-08-02

    Abstract: 本发明提供一种发射率测量方法、装置、系统、设备及介质,属于光辐射度量技术领域,该方法包括:在待测热辐射体达到第一温度时,获取待测热辐射体的第一辐射参数和对照辐射体的第一对照辐射参数;在待测热辐射体达到第二温度时,获取待测热辐射体的第二辐射参数和对照辐射体的第二对照辐射参数;利用第一辐射参数、第一对照辐射参数、第二辐射参数和第二对照辐射参数确定待测热辐射体的发射率。本发明解决了现有技术中待测热辐射体的发射率值、以及环境辐射值都可能发生较明显变化,导致计算结果偏差较大的问题,使得待测热辐射体的发射率值和环境辐射值的变化都控制在较小的范围内,更易获得接近于真实发射率的值。

    利用光压或光辐射压力效应的测量方法及测量装置

    公开(公告)号:CN118392301A

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN202410611467.3

    申请日:2024-05-16

    Abstract: 本发明涉及光学领域,提供一种利用光压或光辐射压力效应的测量方法及测量装置,方法包括:将物体静止悬浮设置;将准直、连续、功率稳定的光束垂直入射于物体的表面;测量物体在光束作用下的加速度;根据物体的加速度、质量、透射比、反射比以及受到的阻力,确定光束的光辐射功率;或,根据光束的光辐射功率、物体的加速度、透射比、反射比以及受到的阻力,确定物体的质量。本发明提供的方法,可以根据已知参数测量特定光束的光辐射功率或特定物体的质量,而且通过合理的数学转换,可以实现特定光束的光辐射功率与特定物体的质量的双向测量,即在同一测量中既可以测量光辐射功率也可以测量物体质量,提高了测量的灵活性和多功能性。

    漂浮式水面靶标
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117250605A

    公开(公告)日:2023-12-19

    申请号:CN202311066406.5

    申请日:2023-08-23

    Abstract: 本发明涉及探测定标技术领域,提供一种漂浮式水面靶标,包括:漂浮底座与定标模组;定标模组设于漂浮底座上,定标模组呈多面体结构,多面体结构为半个阿基米德多面体;定标模组具有微波反射层与光学反射层当中的至少一者;光学反射层位于定标模组的表面;微波反射层用于反射雷达发出的微波,光学反射层用于向光学成像设备反射光线;本发明的漂浮式水面靶标可以漂浮在水面上,从而能够从探测对象与探测环境两方面尽可能真实地模拟探测设备的实际探测情形,以辅助探测设备开展水上目标的搜索训练。

    针对智能感知系统的测试方法、系统、电子设备

    公开(公告)号:CN116156151A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211617237.5

    申请日:2022-12-15

    Abstract: 本发明提供一种针对智能感知系统的测试方法、系统、电子设备,所述智能感知系统能够基于输入的待识别数据,所述待识别数据包括场景和包含于所述场景内的目标,输出关于所述目标的识别结果,所述方法包括:获取多个测试用样本,其中,每个所述样本包括所述样本的分值、标签和第一数据;针对每个所述样本,判断所述识别结果是否正确,获取第一得分;将所有所述样本的第一得分相加求和,再除以所有所述样本的分值之和,得到第二得分,用来评估所述智能感知系统的感知能力。本发明能够对智能感知系统的识别能力给出客观的量化的得分,能够从各个场景类型层次、全面性考察智能感知系统的识别能力。

    定标模组
    6.
    发明公开
    定标模组 审中-实审

    公开(公告)号:CN115856806A

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN202211678421.0

    申请日:2022-12-26

    Abstract: 本发明涉及探测定标技术领域,提供一种定标模组,包括:微波反射组件与光学反射组件;微波反射组件具有微波反射面,微波反射面用于反射雷达发出的微波,光学反射组件具有光学反射面,光学反射面用于向光学成像装备反射光线;微波反射组件与光学反射组件可拆卸式连接;微波反射组件上设有第一凹槽,微波反射面形成于第一凹槽的内壁面,微波反射面朝向光学反射组件,光学反射面设于光学反射组件背离微波反射组件的一侧;本发明通过微波反射组件与光学反射组件的灵活搭配组合,从而可以模拟多种不同反射特性的物体,以利于提升雷达与光学成像设备校准与定标的准确性。

    一种超导相变温度传感器及其制备方法

    公开(公告)号:CN108362726B

    公开(公告)日:2020-07-31

    申请号:CN201810151308.4

    申请日:2018-02-14

    Abstract: 本发明提供的一种超导相变温度传感器及其制备方法,其中所述传感器包括:依次镀在基板上的第一层薄膜和第二层薄膜;第一层薄膜为超导材料;第二层薄膜的宽度与第一层薄膜的宽度的比值沿所述第一层薄膜的长度方向逐渐变化;所述第一层薄膜的厚度与所述第二层薄膜的厚度之和为0.2‑200nm。在所述第二层薄膜的宽度与所述第一层薄膜的宽度的比值的最大处的超导相变温度为第一温度,在所述第二层薄膜的宽度与所述第一层薄膜的宽度的比值的最小处的超导相变温度为第二温度,超导相变温度传感器的最佳工作范围为所述第一温度至所述第二温度。本发明提供的超导相变温度传感器具有较宽的工作范围,使得超导相变温度传感器的适用范围更广泛。

    一种用于光纤波长标准器的高精度光谱定标方法

    公开(公告)号:CN110702236A

    公开(公告)日:2020-01-17

    申请号:CN201911084805.8

    申请日:2019-11-08

    Abstract: 本发明提出了一种用于光纤波长标准器的高精度光谱定标方法,包括以下步骤:S1、利用可调谐激光器发射激光;S2、利用光纤分束器对激光进行分束处理,得到第一光束和第二光束;S3、将第一光束通过待定标的光纤波长标准器,利用光功率计分别测量第一光束和第二光束的光功率,利用光波长计测量第二光束的波长;S4、基于第一光束和第二光束的光功率、第二光束的波长获得吸收峰扫描曲线,计算吸收峰波长;S5、将计算得到的吸收峰波长赋予待定标的光纤波长标准器,实现光纤波长标准器的光谱定标。本发明方法可以为光纤波长标准器提供高精度定标,为高分辨率、高精度光纤波长提供了量值溯源的可靠途径与保障。

    一种光线追踪光学特性扫描测量装置和方法

    公开(公告)号:CN119935956A

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202510423630.8

    申请日:2025-04-07

    Abstract: 本发明涉及光学检测技术领域,提供一种光线追踪光学特性扫描测量装置和方法,该装置包括光源,用于照射出准直的光束;光束方位调节模块,设置在光束的照射方向,用于调整光束的照射方向;光束指向测量模块,可移动地设置在入射光束、反射光束和折射光束的光路中;光束功率测量模块,可移动地设置在入射光束、反射光束和折射光束的光路中。本发明提供的光线追踪光学特性扫描测量装置,光束指向测量模块与光束功率测量模块可灵活移动至入射、反射及折射光路中,无需切换其他配套设备或大幅调整样品位置,并可快速获取光束的空间指向与功率信息,显著提升测量效率和精度。

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