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公开(公告)号：CN113049144B
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202110331756.4
申请日：2021-03-29
Applicant: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所 , 北京东方计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明提供了一种用于温度测量系统进行全系统宽低温综合校准设备的隔热腔，该方案采用制冷机制冷和加热器加热综合控温方式，隔热校准腔采用三层结构，中层外层真空隔热，内层作为校准温度源，放置传感器安装铜座，通过充氦实现温度场快速均匀。在校准过程中，温度传感器带线缆穿过密封座后，置于校准腔内的传感器安装铜座内，然后对导线实行密封，中外层抽真空隔热，内层充氦。准备就绪后，在测控机柜控制下，按照校准流程实施制冷机和加热器校准腔温度控制，达到校准目标温度值后，温度测量系统采集校准温度点的电流或电压值。按流程所有校准点完成后进行校准曲线拟合，得到温度测量系统测量范围内的校准曲线。
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公开(公告)号：CN116222824A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310271436.3
申请日：2023-03-20
Applicant: 北京东方计量测试研究所 , 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明涉及一种高精度低温温度传感器校准装置及校准方法，所述装置包括：氦气瓶(1)、水冷机组(2)、GM制冷机(3)、恒温校准舱系统(4)和控制机柜(5)，氦气瓶(1)和恒温校准舱系统(4)连接，控制恒温校准舱系统(4)的温度场均匀性；水冷机组(2)和GM制冷机(3)连接，为GM制冷机(3)提供冷量；GM制冷机(3)和恒温校准舱系统(4)连接，控制恒温校准舱系统(4)内的温度；控制机柜(5)和恒温校准舱系统(4)连接，控制恒温校准舱系统(4)内的温度和压力参数；恒温校准舱系统(4)由上舱体和下舱体两部分组成。本发明的静态有效温度场均匀性可达10mK，并能同时校准多个不同规格的温度传感器。
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公开(公告)号：CN113049145A
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202110332037.4
申请日：2021-03-29
Applicant: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明提供了一种对温度测量系统进行全系统宽低温综合校准的设备，校准温度范围77K到323K，采用制冷机制冷和加热器加热综合控温方式，隔热校准腔采用三层结构，中层外层真空隔热，内层作为校准温度源，放置传感器安装铜座，通过充氦实现温度场快速均匀。在校准过程中，温度传感器带线缆穿过密封座后，置于校准腔内的传感器安装铜座内，然后对导线实行密封，中外层抽真空隔热，内层充氦。准备就绪后，在测控机柜控制下，自动按照校准流程实施制冷机和加热器校准腔温度控制，达到校准目标温度值后，温度测量系统采集校准温度点的电流或电压值。按流程所有校准点完成后进行校准曲线拟合，得到温度测量系统测量范围内的校准曲线。
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公开(公告)号：CN113049144A
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202110331756.4
申请日：2021-03-29
Applicant: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明提供了一种用于温度测量系统进行全系统宽低温综合校准设备的隔热腔，该方案采用制冷机制冷和加热器加热综合控温方式，隔热校准腔采用三层结构，中层外层真空隔热，内层作为校准温度源，放置传感器安装铜座，通过充氦实现温度场快速均匀。在校准过程中，温度传感器带线缆穿过密封座后，置于校准腔内的传感器安装铜座内，然后对导线实行密封，中外层抽真空隔热，内层充氦。准备就绪后，在测控机柜控制下，按照校准流程实施制冷机和加热器校准腔温度控制，达到校准目标温度值后，温度测量系统采集校准温度点的电流或电压值。按流程所有校准点完成后进行校准曲线拟合，得到温度测量系统测量范围内的校准曲线。
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公开(公告)号：CN113049145B
公开(公告)日：2022-01-28
申请号：CN202110332037.4
申请日：2021-03-29
Applicant: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明提供了一种对温度测量系统进行全系统宽低温综合校准的设备，校准温度范围77K到323K，采用制冷机制冷和加热器加热综合控温方式，隔热校准腔采用三层结构，中层外层真空隔热，内层作为校准温度源，放置传感器安装铜座，通过充氦实现温度场快速均匀。在校准过程中，温度传感器带线缆穿过密封座后，置于校准腔内的传感器安装铜座内，然后对导线实行密封，中外层抽真空隔热，内层充氦。准备就绪后，在测控机柜控制下，自动按照校准流程实施制冷机和加热器校准腔温度控制，达到校准目标温度值后，温度测量系统采集校准温度点的电流或电压值。按流程所有校准点完成后进行校准曲线拟合，得到温度测量系统测量范围内的校准曲线。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118829059A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202410877286.5
申请日：2024-07-02
Applicant: 北京东方计量测试研究所 , 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明为等离子体探针校准领域，提供基于辐射光谱及红外成像的等离子体探针阵列校准方法。测量探针阵列的表面温度，使用探针阵列测量稳定运行的霍尔推进器的羽流参数，得到此时探针阵列收集到的伏安特性曲线。再使用红外成像仪测量探针阵列的表面温度，得到探针受轰击加热的温度差。结合探针表面的二次电子发射系数，便计算出二次电流值。结合探针本身测量得到的离子电流值，对电子电流值进行修正，得到真实的伏安特性曲线，计算出准确的电子温度密度。使用光谱仪通过光谱测量此时的电子温度电子密度，与修改后的探针测量的电子温度电子密度进行对比，实现对等离子体探针阵列进行校准。用以解决探针测量结果缺乏校准，准确度难以评定的问题。
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公开(公告)号：CN118555722A
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202410877284.6
申请日：2024-07-02
Applicant: 北京东方计量测试研究所 , 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提出了一种结合光谱和红外成像的离子推力器推力状态在轨监测装置及方法，属于航天等离子体推进技术领域，离子推力器安装在人造卫上，红外相机和多光谱相机通过机械手与人造卫星相连，所述红外相机和多光谱相机可以通过机械手移动，以充分获取离子推力器栅极的温度信息和等离子体密度信息；首先使用红外相机和多光谱相机拍摄图像；根据得到的红外相机图像计算栅极温度；根据多光谱相机图像计算等离子密度；计算离子透明度和离子电流；最后计算并分析离子推力器的推力状态；本发明的方法对推力器本身无干扰，可以实现卫星的空间在轨使用，从而监测离子推力器推力状态的天地不一致性。
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公开(公告)号：CN117420121B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202311743388.X
申请日：2023-12-19
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京东方计量测试研究所
IPC: G01N21/70 , G06F18/2135 , G06F18/23 , G01N21/25
Abstract: 本发明提出了基于碰撞辐射和光谱关联的金属光谱识别方法及系统，属于航天等离子体推进领域，首先确定实验中采集的光谱中心波长的偏移量；在满足偏移量的条件下，依据爱因斯坦发射系数、相对强度、上能级水平以及下能级水平的强度，综合比较进行谱线的初步辨识；对于偏移量满足确定的范围但仍无法区分的谱线，重点关注其上能级的能级结构，找出具有相同上能级的其他强谱线，进一步确定这些谱线是否存在，以完成基于碰撞辐射和光谱关联的复杂结构金属光谱识别，依靠此方法可以对钡钨空心阴极内部关键部件的金属谱线辨识分离。
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公开(公告)号：CN117425260B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202311743460.9
申请日：2023-12-19
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明提出了等离子体推进器羽流激发态离子速度分布的光谱监测方法；属于光谱诊断测试技术领域，首先，将根光纤通过升降光学支架沿轴向排列，以测量等离子体推进器羽流区数据；再将光纤连接光谱仪测量氙离子的一价态谱线，反演还原出光纤其各自位置的氙原子谱线强度；根据反演出的光纤的氙原子谱线强度；计算得出羽流中激发态离子速度分布情况；本发明利用光谱测量可以直观准确的反应等离子体推进器羽流区域内的实际离子速度分布函数，准确测量离子速度。
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公开(公告)号：CN117420083B
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202311743392.6
申请日：2023-12-19
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京东方计量测试研究所
Abstract: 一种等离子体侵蚀痕量产物在线监测装置及方法，涉及等离子体光谱测试技术领域，解决的技术问题为“如何进行等离子体推进器工部件侵蚀痕量产物监测”，该装置包括金属屏蔽罩，以及设置于所述金属屏蔽罩内部的第一凸透镜、第一反射镜、分光棱镜、第二凸透镜、光栅以及第二反射镜，以及设置于所述金属屏蔽罩外部的光电倍增管和分析处理设备；所述金属屏蔽罩侧壁上固定有入射光狭缝和出射光狭缝，所述出射光狭缝与所述光电倍增管连接，所述光电倍增管与所述分析处理设备连接；该装置及方法设计了光谱仪设备对痕量产物谱线光强进行监测，建立痕量物质辐射谱线强度和光强信号波动关系，以获得痕量产物绝对密度，可靠性高，监测灵敏。
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