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公开(公告)号：CN101852839B
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：CN201010181640.9
申请日：2010-05-19
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及老化预测和超速时延测试双功能的系统和方法，系统包括：时钟信号生成模块，用于根据第一控制向量生成可编程时钟信号，根据第二控制向量生成多个测试时钟信号；工作模式及时钟选择模块，用于根据控制信号确定系统的工作模式，并在可编程时钟信号、系统功能时钟信号和测试时钟信号中选择，将选择的信号输入到目标电路的系统时钟树，以进行对应的工作模式的操作；工作模式包括，正常工作模式，老化预测模式，以及超速时延测试模式；电路响应捕获模块，用于在当前模式为老化预测模式时，在捕获区间捕获目标电路的响应，并根据是否在捕获区间内出现信号跳变而产生相应的报警信号。本发明能够进行超速时延测试和在线电路老化预测。
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公开(公告)号：CN101852839A
公开(公告)日：2010-10-06
申请号：CN201010181640.9
申请日：2010-05-19
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及老化预测和超速时延测试双功能的系统和方法，系统包括：时钟信号生成模块，用于根据第一控制向量生成可编程时钟信号，根据第二控制向量生成多个测试时钟信号；工作模式及时钟选择模块，用于根据控制信号确定系统的工作模式，并在可编程时钟信号、系统功能时钟信号和测试时钟信号中选择，将选择的信号输入到目标电路的系统时钟树，以进行对应的工作模式的操作；工作模式包括，正常工作模式，老化预测模式，以及超速时延测试模式；电路响应捕获模块，用于在当前模式为老化预测模式时，在捕获区间捕获目标电路的响应，并根据是否在捕获区间内出现信号跳变而产生相应的报警信号。本发明能够进行超速时延测试和在线电路老化预测。
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公开(公告)号：CN102435931A
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN201110341368.0
申请日：2011-11-02
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供一种基于测量漏电变化的在线电路老化预测方法，包括：步骤一、在电路处于空闲时，向关键通路上的关键门施加多个测量向量，得到对应于所有测量向量的所有关键门漏电变化的线性方程；步骤二、联立对应于所有测量向量的所有关键门漏电变化的线性方程，以形成关键门的漏电变化线性方程组；步骤三、求解关键门漏电变化线性方程组，得到所有关键门漏电变化量，一条关键通路的漏电变化量是这条通路上所有关键门的漏电变化量之和；和步骤四、根据关键通路的漏电变化量和时延变化量之间的相关性来预测关键通路由于NBTI效应导致的老化。通过测量漏电变化来预测电路由于NBTI效应导致的老化，避免电路执行功能操作时产生的实时噪声对测量精度的影响。
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公开(公告)号：CN102435931B
公开(公告)日：2013-11-20
申请号：CN201110341368.0
申请日：2011-11-02
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供一种基于测量漏电变化的在线电路老化预测方法，包括：步骤一、在电路处于空闲时，向关键通路上的关键门施加多个测量向量，得到对应于所有测量向量的所有关键门漏电变化的线性方程；步骤二、联立对应于所有测量向量的所有关键门漏电变化的线性方程，以形成关键门的漏电变化线性方程组；步骤三、求解关键门漏电变化线性方程组，得到所有关键门漏电变化量，一条关键通路的漏电变化量是这条通路上所有关键门的漏电变化量之和；和步骤四、根据关键通路的漏电变化量和时延变化量之间的相关性来预测关键通路由于NBTI效应导致的老化。通过测量漏电变化来预测电路由于NBTI效应导致的老化，避免电路执行功能操作时产生的实时噪声对测量精度的影响。
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