公开(公告)号：CN101719087B

公开(公告)日：2011-12-07

申请号：CN200910241575.1

申请日：2009-11-26

Applicant: 中国科学院计算技术研究所

Inventor： 潘送军 ,  胡瑜 ,  李晓维

IPC: G06F11/22

Abstract: 本发明涉及微处理器可靠性评测方法及其系统，方法包括：步骤1，确定待分析的间歇故障所属的故障类型，确定故障模型的关键参数；步骤2，根据确定的故障类型，从微处理器中选择硬件结构；步骤3，在微处理器中运行测试程序，根据关键参数运用故障模型进行故障模拟，确定测试程序执行过程中硬件结构包含的体系结构正确执行位或关键时间区域；步骤4，根据确定的体系结构正确执行位或关键时间区域，判断发生在硬件结构中的间歇故障是否影响程序执行结果；步骤5，根据判断结果计算测试程序执行过程中，待分析的硬件结构中的间歇故障脆弱因子，对微处理器进行可靠性评测。本发明能够评测微处理器中不同结构发生的间歇故障引起程序执行出错的概率。

公开(公告)号：CN101719087A

公开(公告)日：2010-06-02

申请号：CN200910241575.1

申请日：2009-11-26

Applicant: 中国科学院计算技术研究所

Inventor： 潘送军 ,  胡瑜 ,  李晓维

IPC: G06F11/22

Abstract: 本发明涉及微处理器可靠性评测方法及其系统，方法包括：步骤1，确定待分析的间歇故障所属的故障类型，确定故障模型的关键参数；步骤2，根据确定的故障类型，从微处理器中选择硬件结构；步骤3，在微处理器中运行测试程序，根据关键参数运用故障模型进行故障模拟，确定测试程序执行过程中硬件结构包含的体系结构正确执行位或关键时间区域；步骤4，根据确定的体系结构正确执行位或关键时间区域，判断发生在硬件结构中的间歇故障是否影响程序执行结果；步骤5，根据判断结果计算测试程序执行过程中，待分析的硬件结构中的间歇故障脆弱因子，对微处理器进行可靠性评测。本发明能够评测微处理器中不同结构发生的间歇故障引起程序执行出错的概率。