公开(公告)号：CN109557449A

公开(公告)日：2019-04-02

申请号：CN201811235172.1

申请日：2018-10-23

Applicant: 中国科学院计算技术研究所

Inventor： 叶靖 ,  井鹏飞 ,  李晓维 ,  李华伟 ,  胡瑜 ,  赵鑫 ,  王莉菲

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明提出一种集成电路难测路径的选择方法。本发明包括：利用动静态协同分析，计算和校准逻辑值为0或为1的概率；根据所计算概率，从输出向输入方向寻找跳变沿传输概率小的路径；为所选路径生成测试向量，判断路径有效性。本发明通过动静态协同分析方法提高了概率计算精度，进而有效寻找出集成电路中的难测路径，为保证集成电路测试覆盖率提供重要支撑。

公开(公告)号：CN109557449B

公开(公告)日：2020-04-03

申请号：CN201811235172.1

申请日：2018-10-23

Applicant: 中国科学院计算技术研究所

Inventor： 叶靖 ,  井鹏飞 ,  李晓维 ,  李华伟 ,  胡瑜 ,  赵鑫 ,  王莉菲

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明提出一种集成电路难测路径的选择方法。本发明包括：利用动静态协同分析，计算和校准逻辑值为0或为1的概率；根据所计算概率，从输出向输入方向寻找跳变沿传输概率小的路径；为所选路径生成测试向量，判断路径有效性。本发明通过动静态协同分析方法提高了概率计算精度，进而有效寻找出集成电路中的难测路径，为保证集成电路测试覆盖率提供重要支撑。