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公开(公告)号：CN110470406A
公开(公告)日：2019-11-19
申请号：CN201910618756.5
申请日：2019-07-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种热红外光谱仪杂散辐射的测量方法，将探测器与待测量的热红外光谱仪相连接，在相同积分时间下，分别测量不同光谱仪温度下的热红外光谱仪对黑体辐射能量分光后接收到的单一光谱通道的输出响应曲线，差值求算出热红外光谱仪内部杂散辐射的辐亮度响应参数，从而定量化出热红外光谱仪在任一积分时间下和任一光谱仪温度下的内部杂散辐射的输出灰度值和辐射通量。本发明所述的方法在不同光谱通道和不同积分时间下具有通用性，能够有效解决热红外光谱仪内部杂散辐射定标严重影响系统辐射精度和系统定量化的问题，具有很强的工程实际应用价值。
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公开(公告)号：CN108801460A
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201810945393.1
申请日：2018-08-20
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0256 , G01J3/0289 , G01J3/0294 , G01J2003/2826
Abstract: 本发明公开了一种共口径多通道全波段高光谱成像系统，采用二次视场分离法，通过在主反射镜和次反射镜形成的中间像面上设置轴上视场分离器实现一次视场分离，将不同视场的光线进行分离形成2个视场通道，再经三反射镜反射至离轴视场分离器实现二次视场分离，再次将不同视场的光线进行分离形成6个视场通道，为多个光谱仪模块化对接提供更为充足的布局空间，突破了传统分光器件无法实现全波段高衍射效率分光的限制，满足全波段高光谱成像系统的需求；该系统容易实现大口径设计，进行大视场成像，且结构紧凑，有利于实现全波段高光谱载荷设计的轻小型化。
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公开(公告)号：CN106596420A
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201710046636.3
申请日：2017-01-19
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01N21/25
CPC classification number: G01N21/25
Abstract: 本发明公开了一种超大幅宽高分辨率成像系统及成像方法，所述系统包括扫描摆镜、变焦系统、可调光阑和探测器；扫描摆镜摆扫成像；变焦系统的焦距和可调光阑的狭缝大小随扫描摆镜的旋转角度发生瞬时变化，沿轨方向和穿轨方向的分辨率始终保持和星下点成像分辨率一致，以保证超大幅宽成像过程中的任意位置均保持和星下点成像分辨率一致的高分辨率成像。本发明优点在于：在扫描摆镜超大幅宽成像过程中，巧妙地利用变焦系统和可调光阑保证沿轨和穿轨方向的分辨率始终保持和星下点成像分辨率一致，最终实现超大幅宽成像过程中的任意位置的高分辨率成像，而且方法简单，易形成体积小重量轻的轻小型成像系统，可保证探测灵敏度。
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公开(公告)号：CN108801460B
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN201810945393.1
申请日：2018-08-20
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种共口径多通道全波段高光谱成像系统，采用二次视场分离法，通过在主反射镜和次反射镜形成的中间像面上设置轴上视场分离器实现一次视场分离，将不同视场的光线进行分离形成2个视场通道，再经三反射镜反射至离轴视场分离器实现二次视场分离，再次将不同视场的光线进行分离形成6个视场通道，为多个光谱仪模块化对接提供更为充足的布局空间，突破了传统分光器件无法实现全波段高衍射效率分光的限制，满足全波段高光谱成像系统的需求；该系统容易实现大口径设计，进行大视场成像，且结构紧凑，有利于实现全波段高光谱载荷设计的轻小型化。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110231090A
公开(公告)日：2019-09-13
申请号：CN201910178546.9
申请日：2019-03-11
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种热红外光谱仪内部杂散辐射的测试方法，使用黑体分别对探测器的全响应波段和热红外光谱仪的光谱通道在一个积分时间下进行辐射测试，通过该方法对探测器和光谱仪分别进行一次测试，即可测量系统当前状态下的内部杂散辐射等效的灰度值和辐射通量，结合测试时的光机温度可得到任意积分时间和任意光机温度下热红外光谱仪的内部杂散辐射的灰度值和辐射通量。本发明所述的方法简单，且能够有效解决热红外光谱仪内部杂散辐射严重影响系统辐射精度和系统定量化的问题，适用于实际工程应用。
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公开(公告)号：CN106596420B
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN201710046636.3
申请日：2017-01-19
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01N21/25
Abstract: 本发明公开了一种超大幅宽高分辨率成像系统及成像方法，所述系统包括扫描摆镜、变焦系统、可调光阑和探测器；扫描摆镜摆扫成像；变焦系统的焦距和可调光阑的狭缝大小随扫描摆镜的旋转角度发生瞬时变化，沿轨方向和穿轨方向的分辨率始终保持和星下点成像分辨率一致，以保证超大幅宽成像过程中的任意位置均保持和星下点成像分辨率一致的高分辨率成像。本发明优点在于：在扫描摆镜超大幅宽成像过程中，巧妙地利用变焦系统和可调光阑保证沿轨和穿轨方向的分辨率始终保持和星下点成像分辨率一致，最终实现超大幅宽成像过程中的任意位置的高分辨率成像，而且方法简单，易形成体积小重量轻的轻小型成像系统，可保证探测灵敏度。
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公开(公告)号：CN110470406B
公开(公告)日：2020-10-13
申请号：CN201910618756.5
申请日：2019-07-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种热红外光谱仪杂散辐射的测量方法，将探测器与待测量的热红外光谱仪相连接，在相同积分时间下，分别测量不同光谱仪温度下的热红外光谱仪对黑体辐射能量分光后接收到的单一光谱通道的输出响应曲线，差值求算出热红外光谱仪内部杂散辐射的辐亮度响应参数，从而定量化出热红外光谱仪在任一积分时间下和任一光谱仪温度下的内部杂散辐射的输出灰度值和辐射通量。本发明所述的方法在不同光谱通道和不同积分时间下具有通用性，能够有效解决热红外光谱仪内部杂散辐射定标严重影响系统辐射精度和系统定量化的问题，具有很强的工程实际应用价值。
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公开(公告)号：CN206411000U
公开(公告)日：2017-08-15
申请号：CN201720061452.X
申请日：2017-01-19
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01N21/25
Abstract: 本专利公开了一种超大幅宽高分辨率成像系统，所述系统包括扫描摆镜、变焦系统、可调光阑和探测器；扫描摆镜摆扫成像；变焦系统的焦距和可调光阑的狭缝大小随扫描摆镜的旋转角度发生瞬时变化，沿轨方向和穿轨方向的分辨率始终保持和星下点成像分辨率一致，以保证超大幅宽成像过程中的任意位置均保持和星下点成像分辨率一致的高分辨率成像。本专利优点在于：在扫描摆镜超大幅宽成像过程中，巧妙地利用变焦系统和可调光阑保证沿轨和穿轨方向的分辨率始终保持和星下点成像分辨率一致，最终实现超大幅宽成像过程中的任意位置的高分辨率成像，而且方法简单，易形成体积小重量轻的轻小型成像系统，可保证探测灵敏度。
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公开(公告)号：CN208688660U
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201821336535.6
申请日：2018-08-20
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本专利公开了一种共口径多通道全波段高光谱成像系统，采用二次视场分离法，通过在主反射镜和次反射镜形成的中间像面上设置轴上视场分离器实现一次视场分离，将不同视场的光线进行分离形成2个视场通道，再经三反射镜反射至离轴视场分离器实现二次视场分离，再次将不同视场的光线进行分离形成6个视场通道，为多个光谱仪模块化对接提供更为充足的布局空间，突破了传统分光器件无法实现全波段高衍射效率分光的限制，满足全波段高光谱成像系统的需求；该系统容易实现大口径设计，进行大视场成像，且结构紧凑，有利于实现全波段高光谱载荷设计的轻小型化。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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