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公开(公告)号：CN111551327A
公开(公告)日：2020-08-18
申请号：CN202010356956.0
申请日：2020-04-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 华南理工大学
Abstract: 本发明涉及一种舰用机柜的可靠性试验夹具和可靠性试验装置，所述舰用机柜的可靠性试验夹具包括过渡板、横梁及支撑框。过渡板用于装设于振动台上，过渡板用于与舰用机柜的底壁相连。所述支撑框为两个以上，两个以上所述支撑框并列间隔地设置于所述过渡板上。所述横梁为两个，两个以上所述支撑框的其中一侧侧边均与其中一个横梁相连，两个以上所述支撑框的另一侧侧边均与另一个所述横梁相连，其中一个所述横梁用于与所述舰用机柜的背面相连。可以根据舰用机柜的数量确定在过渡板上装设的支撑框的数量，并将两个以上舰用机柜同步装设于过渡板上，可以同时对两个以上舰用机柜进行可靠性试验，能减少试验时间，并能提高试验效率，拓展性较强。
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公开(公告)号：CN111678535A
公开(公告)日：2020-09-18
申请号：CN202010342362.4
申请日：2020-04-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明涉及可靠性试验技术领域，公开了一种光纤陀螺可靠度加速试验方法。通过对所述光纤陀螺进行失效机理分析和可靠性摸底试验来确定所述光纤陀螺的退化性能参数和敏感环境应力，并根据所述退化性能参数和所述敏感环境应力制定相应的试验方案。然后对所述光纤陀螺进行加速退化试验，对所得的试验数据进行分析，建立相应的退化模型，从而推算出其失效时间，最后根据失效时间和寿命分布模型，对经过测试的光纤陀螺进行可靠性指标评估。通过本发明提出的光纤陀螺可靠度加速试验方法对光纤陀螺进行测试，可以有效减少试验的时间成本，同时也有效降低了试验成本；并且，最大限度模拟了光纤陀螺的真实退化环境因素，从而实现产品MTBF的准确评估。
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公开(公告)号：CN111239535A
公开(公告)日：2020-06-05
申请号：CN202010207416.6
申请日：2020-03-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种舰艇电子产品装载可靠性加速试验方法，包括：基于贝叶斯方法确定舰艇电子产品的先验试验和装载可靠性加速试验的试验时间和样本量；确定装载可靠性加速试验的敏感环境应力及其水平值；根据敏感环境应力及其水平值确定装载可靠性加速试验的试验剖面；按照所确定的试验时间和样本量进行舰艇电子产品的先验试验，并且按照所确定的试验时间和试验剖面进行装载可靠性加速试验，记录试验中出现的故障数；将装载可靠性加速试验的试验时间和故障数作为后验信息，将先验试验的试验时间和故障数作为先验信息，计算得到装载可靠度MTBF的置信下限。本发明能够实现舰艇电子产品装载可靠性的准确考核，满足交付验收阶段的指标快速评价需求。
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公开(公告)号：CN111207943A
公开(公告)日：2020-05-29
申请号：CN202010207930.X
申请日：2020-03-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01M99/00
Abstract: 本发明公开了一种舰艇机电设备可靠性试验方法，包括：根据所述舰艇机电设备的任务剖面，确定能够覆盖所述任务剖面的试验剖面的组成，所述试验剖面包括箱内试验剖面和箱外试验剖面；确定所述舰艇机电设备的环境应力以及各环境应力的应力条件；根据所述机电设备的可靠性指标，确定所述箱内试验剖面的循环次数和所述箱外试验剖面的经验系数；按照所述箱内试验剖面和循环次数进行箱内试验；按照所述箱外试验剖面和经验系数进行箱外试验；根据试验结果判断所述舰艇机电设备是否达到可靠性指标。本发明的舰艇机电设备可靠性试验方法能够在实验室内开展，能够实现对舰艇机电设备可靠性指标的考核。
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公开(公告)号：CN111625990B
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN202010298002.9
申请日：2020-04-16
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/27 , G06N3/0499 , G06N3/084 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种电子整机贮存寿命持续评价方法及装置。电子整机贮存寿命评价方法，通过建立电子整机贮存寿命的评价模型，明确了贮存寿命特征参数的确定方法。电子整机贮存寿命评价方法还建立了退化与误差逆传播算法模型，并选取误差最小的模型作为贮存寿命预测模型。进一步结合上述确定的电子整机贮存寿命的评价模型，得出电子整机的贮存寿命。电子整机贮存寿命评价方法，建立了贮存寿命特征参数与贮存寿命和可靠度的关系模型，为有效评价产品贮存寿命奠定了重要基础。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115218949A
公开(公告)日：2022-10-21
申请号：CN202210610698.3
申请日：2022-05-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Inventor： 胡巨刚 , 王斗辉 , 贺天远 , 杨思邦 , 胡湘洪 , 王春辉 , 汪凯蔚 , 解禾 , 李劲 , 陆家乐 , 宋岩 , 蔡汝山 , 蔡自刚 , 李俊 , 谢章用 , 刘小西 , 曾庆国 , 苏国庆
IPC: G01D21/02
Abstract: 本申请涉及一种环境数据测试方法，用于测试船舶电子设备在航行过程中的环境数据，所述方法包括：在所述电子设备安装在所述船舶舱室中的情况下，按照第一预设航行规则获取所述电子设备的装载环境测试数据；在所述电子设备安装在水下的情况下，按照第二预设航行规则获取所述电子设备的实航环境测试数据；根据所述装载环境测试数据及所述实航环境测试数据，输出所述电子设备的环境试验结果。上述环境数据测试方法能有效获取船舶航行过程中电子设备的实时环境数据，且覆盖的工况广泛，获取的环境数据通过数据处理，完成离散型时域信号向连续性频域信号转换，为船舶电子设备设计研发提供有力的技术支撑。
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公开(公告)号：CN111207943B
公开(公告)日：2022-05-31
申请号：CN202010207930.X
申请日：2020-03-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01M99/00
Abstract: 本发明公开了一种舰艇机电设备可靠性试验方法，包括：根据所述舰艇机电设备的任务剖面，确定能够覆盖所述任务剖面的试验剖面的组成，所述试验剖面包括箱内试验剖面和箱外试验剖面；确定所述舰艇机电设备的环境应力以及各环境应力的应力条件；根据所述机电设备的可靠性指标，确定所述箱内试验剖面的循环次数和所述箱外试验剖面的经验系数；按照所述箱内试验剖面和循环次数进行箱内试验；按照所述箱外试验剖面和经验系数进行箱外试验；根据试验结果判断所述舰艇机电设备是否达到可靠性指标。本发明的舰艇机电设备可靠性试验方法能够在实验室内开展，能够实现对舰艇机电设备可靠性指标的考核。
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公开(公告)号：CN112445153B
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202011116171.2
申请日：2020-10-19
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及浸水试验技术领域，公开了一种浸水试验装置，包括试验箱体、控制系统、水循环系统和升降系统。控制系统输出水循环控制指令和升降指令至水循环系统和升降系统。当需要向试验箱体中的试验样品进行浸水时，控制水循环系统向试验箱体中注入试验用水，当需要排出试验箱体中的试验用水排出时，控制水循环系统进行排水。当需要对试验样品进行浸水动作时，控制升降系统带动放置于其上的试验样品进行升降以完成相应的浸水动作。升降系统包括水压传感器，水压传感器与控制系统相连接。水压传感器获取试验样品所处位置的水压并传输至控制系统，控制系统根据水压对升降指令进行反馈控制，防止因为样品体积造成的水面上涨对试验条件造成影响。
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公开(公告)号：CN112445153A
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN202011116171.2
申请日：2020-10-19
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及浸水试验技术领域，公开了一种浸水试验装置，包括试验箱体、控制系统、水循环系统和升降系统。控制系统输出水循环控制指令和升降指令至水循环系统和升降系统。当需要向试验箱体中的试验样品进行浸水时，控制水循环系统向试验箱体中注入试验用水，当需要排出试验箱体中的试验用水排出时，控制水循环系统进行排水。当需要对试验样品进行浸水动作时，控制升降系统带动放置于其上的试验样品进行升降以完成相应的浸水动作。升降系统包括水压传感器，水压传感器与控制系统相连接。水压传感器获取试验样品所处位置的水压并传输至控制系统，控制系统根据水压对升降指令进行反馈控制，防止因为样品体积造成的水面上涨对试验条件造成影响。
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公开(公告)号：CN111693236A
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN202010412279.X
申请日：2020-05-15
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种测试装置及测试方法，该测试装置，包括喷淋单元，喷淋单元包括测试箱、供液管、以及与供液管连通的喷嘴，测试箱设有测试腔以及与测试腔相通的第一通孔，测试腔的底壁设有出液口，喷嘴的喷口与测试腔相通；及固定单元，固定单元设有固定部，固定部用于固定电子设备，并使得电子设备能够伸入测试腔中。该测试装置及测试方法，能够模拟水下环境，有利于提高水下电子设备测试数据的准确性，更好地反映水下电子设备的性能。
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