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发明公开
基于软件自检在HALT试验中快速激发并定位故障的检测方法无效

公开(公告)号：CN111190407A

公开(公告)日：2020-05-22

申请号：CN201911369232.3

申请日：2019-12-26

Applicant: 中国家用电器研究院

Inventor： 冯长卿 , 李红伟 , 魏明然 , 胡亚欣 , 赵鸿斌 , 柯晓天

IPC: G05B23/02

Abstract: 基于软件自检在HALT试验中快速激发并定位故障的检测方法，属于检测技术领域。对含有MCU的电路板，按照HALT试验的步骤，进行低温步进、高温步进、高低温快速循环、振动步进、温度与振动的综合应力的测试，利用较高的环境应力在短时间内激发出产品的缺陷；同时，在MCU中利用附加的软件自检程序，对于CPU、中断、时钟、存储器、内部数据路径、外部通讯、输入输出(I/O)等组件进行故障检查，从而快速激发并定位MCU及相关电子电路故障点。本发明提升检测效率，降低检测成本。

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