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公开(公告)号：CN111726828B
公开(公告)日：2022-10-21
申请号：CN202010612632.9
申请日：2020-06-30
Applicant: 中国信息通信研究院
IPC: H04W24/02 , H04B7/00 , H04B17/345
Abstract: 本发明提供了一种测试微波传输设备XPIC性能的方法和装置，涉及通信技术领域，能够实现对微波传输设备XPIC性能的有效测试，测试装置简单、测试结果安全可靠；该装置包括：待测的发射设备和接收设备，用于发送和接收微波信号；通过式极化退化板，设于发射设备和接收设备之间，用于对电磁波进行退化分离，使之分离成两个不同极化方向的电磁波信号；网络性能分析仪V，用于测量垂直极化方向接收设备的接收功率；网络性能分析仪H，用于测量水平极化方向接收设备的接收功率；根据测量测量的接收功率计算极化耦合干扰比，用于分析微波传输设备的XPIC性能。本发明提供的技术方案适用于微波传输设备XPIC性能测试的过程中。
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公开(公告)号：CN111726828A
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN202010612632.9
申请日：2020-06-30
Applicant: 中国信息通信研究院
IPC: H04W24/02 , H04B7/00 , H04B17/345
Abstract: 本发明提供了一种测试微波传输设备XPIC性能的方法和装置，涉及通信技术领域，能够实现对微波传输设备XPIC性能的有效测试，测试装置简单、测试结果安全可靠；该装置包括：待测的发射设备和接收设备，用于发送和接收微波信号；通过式极化退化板，设于发射设备和接收设备之间，用于对电磁波进行退化分离，使之分离成两个不同极化方向的电磁波信号；网络性能分析仪V，用于测量垂直极化方向接收设备的接收功率；网络性能分析仪H，用于测量水平极化方向接收设备的接收功率；根据测量测量的接收功率计算极化耦合干扰比，用于分析微波传输设备的XPIC性能。本发明提供的技术方案适用于微波传输设备XPIC性能测试的过程中。
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公开(公告)号：CN111726175B
公开(公告)日：2022-01-25
申请号：CN202010612635.2
申请日：2020-06-30
Applicant: 中国信息通信研究院
Abstract: 本发明提供了一种测试微波传输设备CCDP性能的方法和装置，涉及通信技术领域，能够实现对微波传输设备进行CCDP性能的测试，测试结果可靠，测试过程简单易操作；该装置包括待测的发射设备和接收设备，用于发送和接收微波信号；极化隔离板，设于发射和接收设备之间，用于实现对发射设备和接收设备之间极化隔离度的调整；网络性能分析仪V，用于测量垂直极化条件下发射设备和接收设备之间的吞吐量；网络性能分析仪H，用于测量水平极化条件下发射设备和接收设备之间的吞吐量；根据测量的吞吐量、极化隔离度以及对应微波信号的频率分析微波传输设备的CCDP性能。本发明提供的技术方案适用于微波传输设备CCDP性能测试的过程中。
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公开(公告)号：CN111726175A
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN202010612635.2
申请日：2020-06-30
Applicant: 中国信息通信研究院
Abstract: 本发明提供了一种测试微波传输设备CCDP性能的方法和装置，涉及通信技术领域，能够实现对微波传输设备进行CCDP性能的测试，测试结果可靠，测试过程简单易操作；该装置包括待测的发射设备和接收设备，用于发送和接收微波信号；极化隔离板，设于发射和接收设备之间，用于实现对发射设备和接收设备之间极化隔离度的调整；网络性能分析仪V，用于测量垂直极化条件下发射设备和接收设备之间的吞吐量；网络性能分析仪H，用于测量水平极化条件下发射设备和接收设备之间的吞吐量；根据测量的吞吐量、极化隔离度以及对应微波信号的频率分析微波传输设备的CCDP性能。本发明提供的技术方案适用于微波传输设备CCDP性能测试的过程中。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117192229A
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202311055963.7
申请日：2023-08-21
Applicant: 中国信息通信研究院
Abstract: 本发明涉及射频测试技术领域，提供了一种电波暗室参数的确定方法，包括：S1、测量无屏蔽条件下干扰信号电平I的值；S2、确定预收信号电平P，及同频干扰对P的量值的不确定度分量；S3、基于信干比计算屏蔽室的屏蔽衰减AI，或基于底噪上升量计算屏蔽室的屏蔽衰减AN，或计算强电磁干扰的屏蔽衰减Ap，在实际工程中如果需要同时使用这3个屏蔽衰减要求数值或者其中2个屏蔽衰减要求数值，应该取其最大值。本发明还实现基于天线方向图测量不确定度来计算电波暗室静区反射电平要求。本发明创造性地提供了一种屏蔽室和天线暗室参数的确定方法，克服了传统仅凭经验确定有关参数的缺陷。
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公开(公告)号：CN116231268A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202211549924.8
申请日：2022-12-05
Applicant: 中国信息通信研究院
Abstract: 本发明涉及一种电磁波发射和测量的方法和系统，属于波束赋形天线技术领域，发射时能够形成一个在时域、频域、空间域、极化域都可控、可设计的复杂电磁环境，接收时能够在不同的时间接收电磁波，测量复杂电磁环境的空间分布或电波传播形成的空间幅度谱或无线电测向；该系统包括天线子系统和程控子系统；天线子系统包括：等边或非等边多边形的转盘、旋转动力设备和多组双极化天线；旋转动力设备能够带动转盘转动；多组双极化天线分别设于所述转盘各边的中部位置；垂直和水平极化天线均垂直于所在边的法线；同组中的垂直极化天线和水平极化天线相位中心重合或相位中心分离；相位中心分离时两天线馈电点之间距离不大于天线最大尺寸的0.5倍。
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公开(公告)号：CN115189781B
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202210623459.1
申请日：2022-06-02
Applicant: 中国信息通信研究院
Abstract: 本发明涉及一种仪器仪表占用带宽的校准系统及方法，属于仪器仪表技术领域，能够在实现仪器仪表占用带宽的校准的同时，实现占用带宽的量值溯源；该方法采用两路输出功率相同的连续波信号作为标准信号实现仪器仪表占用带宽的校准；包括：连接系统并设置参数；在第一占用带宽功率比下，从被校仪器仪表中读取其单独在第一信号发生器和第二信号发生器射频输出的连续波作用下的占用带宽；在第二占用带宽功率比下，从被校仪器仪表中读取其在两个信号发生器射频输出的连续波共同作用下的占用带宽；根据读取的三个占用带宽，计算出被校仪器仪表占用带宽的实测值。
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公开(公告)号：CN117458143A
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202310994669.6
申请日：2023-08-08
Applicant: 中国信息通信研究院
Abstract: 本发明涉及一种优化镜面单锥系统的脉冲电磁场的方法和系统，包括：根据馈电点、观察点所在位置点及所有转折点之间的传输时间来确定时间延迟；然后，根据馈电点与观察点所在位置点之间的距离、馈电点的馈电电流、观察点所在位置点与所有转折点之间的最短路径及该最短路径对应的转折电流获得电场最早杂散峰值幅度比；最后根据所述时间延迟和/或电场最早杂散峰值幅度比来优化所述脉冲电磁场。本发明分析并减轻了脉冲电磁场中杂散形成的拖尾现象，采用本发明的方法改善了该不利现象。
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公开(公告)号：CN115189781A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210623459.1
申请日：2022-06-02
Applicant: 中国信息通信研究院
Abstract: 本发明涉及一种仪器仪表占用带宽的校准系统及方法，属于仪器仪表技术领域，能够在实现仪器仪表占用带宽的校准的同时，实现占用带宽的量值溯源；该方法采用两路输出功率相同的连续波信号作为标准信号实现仪器仪表占用带宽的校准；包括：连接系统并设置参数；在第一占用带宽功率比下，从被校仪器仪表中读取其单独在第一信号发生器和第二信号发生器射频输出的连续波作用下的占用带宽；在第二占用带宽功率比下，从被校仪器仪表中读取其在两个信号发生器射频输出的连续波共同作用下的占用带宽；根据读取的三个占用带宽，计算出被校仪器仪表占用带宽的实测值。
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