一种用于天然气地下管廊的防漏监测装置

    公开(公告)号:CN116697278A

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN202310779574.2

    申请日:2023-06-29

    Abstract: 本发明公开了一种用于天然气地下管廊的防漏监测装置,包括管廊主体,所述管廊主体的内部连通有天然气管道,所述天然气管道的顶部安装有滑轨,所述滑轨与天然气管道之间安装有固定结构,所述滑轨的前后两侧均开设有滑动槽,所述滑轨左侧的顶部滑动连接有发射器底座,所述滑轨顶部的右侧滑动连接有反射器底座;本发明通具备方便将检测设备进行快速安装至天然气管道,而且方便调节设备的高度和角度,便于将设备进行校准,使用效率高的优点,解决了目前的检测设备在使用时不方便进行安装,不能快速将设备安装至天然气管道上,而且不便于调整设备的高度和角度,无法快速将设备进行校准,降低了设备的使用效率的问题。

    一种光电器件微区光电流/反射图像特征提取及分析方法

    公开(公告)号:CN112686273B

    公开(公告)日:2022-11-08

    申请号:CN202011588721.0

    申请日:2020-12-29

    Applicant: 东南大学

    Abstract: 本发明公开了一种光电器件微区光电流/反射图像特征提取及分析方法,具体包括:分别提取光电器件表面平面电池区域无微纳结构和有微纳结构区域的光电流图像和反射图像;对所述光电流图像和反射图像进行去背景变换,得到变换后的光电流图像和反射图像;分别对所述变换后的光电流图像和反射图像进行特征提取,建立二者特征的联系;根据所述图像特征提取电学影响因子来定量计算微纳结构的引入对于器件电学性能的影响。本发明的方法能够衡量微纳结构对于器件光学、电学方面的贡献,对于光电器件研发及优化具有重要意义。

    一种用于多结太阳能电池的微区多光谱响应光电测试仪

    公开(公告)号:CN112737504B

    公开(公告)日:2021-11-02

    申请号:CN202011538447.6

    申请日:2020-12-23

    Applicant: 东南大学

    Inventor: 张彤 苏丹 吕磊

    Abstract: 本发明公开了一种多结太阳能电池的微区光电测试仪,包括可调谐激光模块、激光处理模块、光学斩波器、偏置白光模块、滤波片组、双光路光学显微镜、扫描模块、显微电学夹具、电源及电学测试单元和标准电池。可调谐激光和激光处理模块为多结电池微区测试提供信号光,信号光通过光束斩波模块进行调制,偏置白光模块和滤波片组提供偏置光,通过双光路光学显微镜将信号激光和偏置光聚焦到太阳能电池上,通过相机同步实时成像监测测试过程,显微电学夹具与电源及电学测试单元相连提供偏置电压和电信号的测试。该仪器特色是无需其他屏蔽系统、可实时同步监测、高精度、快速且无损实现亚微米空间分辨率、多光谱响应的多结太阳能电池微区光电转换特性测试。

    一种用于多结太阳能电池的微区多光谱响应光电测试仪

    公开(公告)号:CN112737504A

    公开(公告)日:2021-04-30

    申请号:CN202011538447.6

    申请日:2020-12-23

    Applicant: 东南大学

    Inventor: 张彤 苏丹 吕磊

    Abstract: 本发明公开了一种多结太阳能电池的微区光电测试仪,包括可调谐激光模块、激光处理模块、光学斩波器、偏置白光模块、滤波片组、双光路光学显微镜、扫描模块、显微电学夹具、电源及电学测试单元和标准电池。可调谐激光和激光处理模块为多结电池微区测试提供信号光,信号光通过光束斩波模块进行调制,偏置白光模块和滤波片组提供偏置光,通过双光路光学显微镜将信号激光和偏置光聚焦到太阳能电池上,通过相机同步实时成像监测测试过程,显微电学夹具与电源及电学测试单元相连提供偏置电压和电信号的测试。该仪器特色是无需其他屏蔽系统、可实时同步监测、高精度、快速且无损实现亚微米空间分辨率、多光谱响应的多结太阳能电池微区光电转换特性测试。

    一种光电器件微区光电流/反射图像特征提取及分析方法

    公开(公告)号:CN112686273A

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN202011588721.0

    申请日:2020-12-29

    Applicant: 东南大学

    Abstract: 本发明公开了一种光电器件微区光电流/反射图像特征提取及分析方法,具体包括:分别提取光电器件表面平面电池区域无微纳结构和有微纳结构区域的光电流图像和反射图像;对所述光电流图像和反射图像进行去背景变换,得到变换后的光电流图像和反射图像;分别对所述变换后的光电流图像和反射图像进行特征提取,建立二者特征的联系;根据所述图像特征提取电学影响因子来定量计算微纳结构的引入对于器件电学性能的影响。本发明的方法能够衡量微纳结构对于器件光学、电学方面的贡献,对于光电器件研发及优化具有重要意义。

Patent Agency Ranking