公开(公告)号：CN106999086B

公开(公告)日：2020-06-23

申请号：CN201480083283.9

申请日：2014-11-14

Applicant: 东丽工程株式会社 ,  学校法人立命馆

Inventor： 松村淳一 ,  井中千草 ,  牧川方昭 ,  坂上友介

IPC: A61B5/0428

Abstract: 本发明的活体内信号源位置检测方法如下。将三个电极设于活体表面，并且，将第一外部电阻和第二外部电阻分别并联到各电极和地电位之间，测量将第一外部电阻并联到各电极时各电极上产生的第一电压Vi(i＝1、2、3)和将第二外部电阻并联到各电极时各电极上产生的第二电压V’i(i＝1、2、3)，根据第一电压Vi和第二电压V’i计算电压比Vi/V’i(i＝1、2、3)，基于这三个电压比Vi/V’i，检测活体内的信号源的位置。

公开(公告)号：CN1666100A

公开(公告)日：2005-09-07

申请号：CN03816174.5

申请日：2003-07-08

Applicant: 东丽工程株式会社

Inventor： 松村淳一 ,  林睦

IPC: G01N21/958 ,  G01M11/00 ,  G01B11/30

CPC classification number: G01N21/896 ,  G01N21/958 ,  G01N2021/8908

Abstract: 一种光学测定装置，包括：表面光用传感器(5)，由激光光源(2)以规定的入射角向透明测定对象物(1)的表面照射光束，使从透明测定对象物(1)的表面、背面产生的表面光、背面光通过成像光学系统(3)成像，在透过半反射镜(4)的表面光的成像位置上配置受光面；背面光用传感器(6)，被配置成使受光面位于由半反射镜(4)反射的背面光的成像位置；表面用测定数据保持部(7)，把来自表面光用传感器(5)的输出信号和支撑机构的动作信息作为输入，生成和保持与透明测定对象物(1)的表面对应的二维光学测定数据；背面用测定数据保持部(8)，把来自背面光用传感器(6)的输出信号和支撑机构的动作信息作为输入，生成和保持与透明测定对象物(1)的背面对应的二维光学测定数据；以及表面背面数据生成保持部(9)，把两光学测定数据作为输入进行表面背面判定处理，生成和保持仅与透明测定对象物(1)的表面对应的表面数据和仅与背面对应的背面数据。由此，不会增加扫描时间，可提高被检测面的异物检测精度，而且，不仅可测定表面的状态，而且可测定背面的状态。

公开(公告)号：CN106999086A

公开(公告)日：2017-08-01

申请号：CN201480083283.9

申请日：2014-11-14

Applicant: 东丽工程株式会社 ,  学校法人立命馆

Inventor： 松村淳一 ,  井中千草 ,  牧川方昭 ,  坂上友介

IPC: A61B5/0428

Abstract: 本发明的活体内信号源位置检测方法如下。将三个电极设于活体表面，并且，将第一外部电阻和第二外部电阻分别并联到各电极和地电位之间，测量将第一外部电阻并联到各电极时各电极上产生的第一电压Vi(i＝1、2、3)和将第二外部电阻并联到各电极时各电极上产生的第二电压V’i(i＝1、2、3)，根据第一电压Vi和第二电压V’i计算电压比Vi/V’i(i＝1、2、3)，基于这三个电压比Vi/V’i，检测活体内的信号源的位置。

公开(公告)号：CN1721841B

公开(公告)日：2010-08-04

申请号：CN200510086024.4

申请日：2005-07-18

Applicant: 东丽工程株式会社

Inventor： 松村淳一 ,  大久保宪治

IPC: G01N21/896 ,  G01B11/00

Abstract: 提供能够避免检查对象的表面特性引起噪声使测量精度恶化的光学测量方法及光学测量装置。将光照射到检查对象(GL)上，接受从检查对象(GL获得的光最终变换成二维光强度信号(S1)，从光强度信号(S1)中将测量表面状态(IB)时必须的信号即关注信号(SB)与测量表面状态时不需要的信号即噪声信号(SN)分离，由此仅抽出关注信号(SB)，将抽出的关注信号(SB)与预定的阈值(T1)进行比较。实际上为比较光强度信号(S1)与追随噪声信号(SN)的阈值，能够避免检查对象的表面特性引起噪声使测量精度恶化。

公开(公告)号：CN1721841A

公开(公告)日：2006-01-18

申请号：CN200510086024.4

申请日：2005-07-18

Applicant: 东丽工程株式会社

Inventor： 松村淳一 ,  大久保宪治

IPC: G01N21/896 ,  G01B11/00

Abstract: 提供能够避免检查对象的表面特性引起噪声使测量精度恶化的光学测量方法及光学测量装置。将光照射到检查对象(GL)上，接受从检查对象(GL获得的光最终变换成二维光强度信号(S1)，从光强度信号(S1)中将测量表面状态(IB)时必须的信号即关注信号(SB)与测量表面状态时不需要的信号即噪声信号(SN)分离，由此仅抽出关注信号(SB)，将抽出的关注信号(SB)与预定的阈值(T1)进行比较。实际上为比较光强度信号(S1)与追随噪声信号(SN)的阈值，能够避免检查对象的表面特性引起噪声使测量精度恶化。

公开(公告)号：CN100570342C

公开(公告)日：2009-12-16

申请号：CN03816174.5

申请日：2003-07-08

Applicant: 东丽工程株式会社

Inventor： 松村淳一 ,  林睦

IPC: G01N21/958 ,  G01M11/00 ,  G01B11/30

CPC classification number: G01N21/896 ,  G01N21/958 ,  G01N2021/8908

Abstract: 一种光学测定装置，包括：表面光用传感器(5)，由激光光源(2)以规定的入射角向透明测定对象物(1)的表面照射光束，使从透明测定对象物(1)的表面、背面产生的表面光、背面光通过成像光学系统(3)成像，在透过半反射镜(4)的表面光的成像位置上配置受光面；背面光用传感器(6)，被配置成使受光面位于由半反射镜(4)反射的背面光的成像位置；表面用测定数据保持部(7)，把来自表面光用传感器(5)的输出信号和支撑机构的动作信息作为输入，生成和保持与透明测定对象物(1)的表面对应的二维光学测定数据；背面用测定数据保持部(8)，把来自背面光用传感器(6)的输出信号和支撑机构的动作信息作为输入，生成和保持与透明测定对象物(1)的背面对应的二维光学测定数据；以及表面背面数据生成保持部(9)，把两光学测定数据作为输入进行表面背面判定处理，生成和保持仅与透明测定对象物(1)的表面对应的表面数据和仅与背面对应的背面数据。由此，不会增加扫描时间，可提高被检测面的异物检测精度，而且，不仅可测定表面的状态，而且可测定背面的状态。