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公开(公告)号：CN101839775A
公开(公告)日：2010-09-22
申请号：CN200910047910.4
申请日：2009-03-20
Applicant: 上海工程技术大学
IPC: G01K7/36
Abstract: 本发明一种圆柱体导体材料温度测量装置及其方法，涉及电磁参数测量技术领域，具体指一种利用涡流检测技术原理，检测圆柱体导体材料温度的装置及其方法。装置包括信号发生器(1)、频率计(2)、电流表(A)、电压表(V)、相位表工作线圈(A1)、调零线圈(A2)和补偿线圈(A3)及经与其连接的数据卡(3)和计算机(4)作电信号方式的连接构成。根据欧姆定理和圆柱形导体的磁场渗透公式，及公式：和引用综合参数，通过贝塞尔公式进行电路调整和调整后把被测件放入工作线圈(A2)中等操作并经数据卡和计算机的运算获得相关的检测参数。
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公开(公告)号：CN101839967A
公开(公告)日：2010-09-22
申请号：CN200910047900.0
申请日：2009-03-20
Applicant: 上海工程技术大学
Abstract: 本发明一种测量圆柱体导体材料参数的装置及其方法，涉及电磁参数测量技术领域，具体指一种利用涡流检测技术原理，检测圆柱体导体材料参数的装置及其方法。装置包括信号发生器(1)、频率计(2)、电流表(A)、电压表(V)、相位表工作线圈(A1)、比较线圈(A2)及经与其连接的数据卡(3)和计算机(4)作电信号方式的连接构成。根据欧姆定理和圆柱形导体的磁场渗透公式，得到空载时的传感器线圈内的磁流Φ0和插入圆柱导体以后圆柱导体横截面上渗透的磁流Φ2为：和利用利用贝塞尔公式推导等结果得到和经把与被测件直径相同的标准件放置在比较线圈内部，把被测件放置在测量线圈内部并经计算机运算得到相应的参数值。
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公开(公告)号：CN101839966A
公开(公告)日：2010-09-22
申请号：CN200910047899.1
申请日：2009-03-20
Applicant: 上海工程技术大学
Abstract: 本发明一种测量圆柱体导体材料多参数的装置及其方法，涉及电磁参数测量技术领域，具体指一种利用涡流检测技术原理，检测圆柱体导体材料多参数的装置及其方法。装置包括信号发生器(1)、频率计(2)、电流表(A)、电压表(V)、相位表工作线圈(A1)、调零线圈(A2)和补偿线圈(A3)及经与其连接的数据卡(3)和计算机(4)作电信号的方式连接构成。根据欧姆定理和圆柱形导体的磁场渗透公式，得到空载时的工作线圈内的磁流和插入圆柱导体以后圆柱导体横截面上渗透的磁流利用贝塞尔公式推导公式得等关系式。进行电路调整和调整后把被测件放入工作线圈(A1)中等操作并经数据卡和计算机的运算获得相关的检测参数。
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