公开(公告)号：CN118362646A

公开(公告)日：2024-07-19

申请号：CN202410453855.3

申请日：2024-04-16

Applicant: 上海工程技术大学

Inventor： 张辉 ,  何雯婧 ,  朱文发 ,  范国鹏 ,  张海燕

IPC: G01N29/06 ,  B61K9/08 ,  B61D15/12 ,  G01N29/48 ,  G01N29/44 ,  G06N3/126

Abstract: 本发明涉及一种轨道板缺陷稀布阵列超声成像方法及装置，方法包括：将若干相控阵传感器组成传感器阵列，其中所述相控传感器即为阵元；对所述传感器阵列的阵元位置进行稀布优化处理，获取最优全阵阵元位置；根据所述最优全阵阵元位置的传感器阵列向轨道板发射超声波并接收所述轨道板反射的超声回波信号；基于所述最优全阵阵元位置和所述超声回波信息，获取目标聚焦点的幅值，根据所述目标聚焦点的幅值进行全聚焦成像。本发明可对轨道板缺陷进行非接触式在线检测，可实现高效，快速，准确地检测轨道板缺陷。