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发明公开
减少SMT工艺引起的OS数据可靠性劣化的闪存及其操作方法审中-公开

公开(公告)号：CN117995246A

公开(公告)日：2024-05-07

申请号：CN202311006785.9

申请日：2023-08-10

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 安孝珍 , 申东右 , 金成国 , 李昌骏 , 洪性俊

IPC: G11C16/10 , G11C16/14 , G11C16/08 , G11C16/24

Abstract: 本公开提供了用于在表面贴装技术(SMT)工艺之前编程操作系统(OS)数据的方法和装置。在一些实施例中，一种方法包括擦除存储器块中的多个存储单元，将耦合到存储器块的字线分类为要用OS数据编程的第一字线和要用状态图案编程的第二字线，用多位编程将OS数据编程到耦合到第一字线的多个存储单元的第一存储单元中，以及将耦合到第二字线的多个存储单元的第二存储单元编程为具有状态图案。

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