-
公开(公告)号：CN110545093A
公开(公告)日：2019-12-06
申请号：CN201910131817.5
申请日：2019-02-22
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了半导体装置以及半导体测试设备。所述半导体装置包括信号发生器以及解码和时序偏斜调整电路。所述信号发生器被配置为接收n个具有m个信号电平的多电平信号，并将所述n个多电平信号转换成n*(m-1)个具有两个信号电平的单电平信号。所述解码和时序偏斜调整电路被配置为接收所述单电平信号，对所述单电平信号执行预定义操作以产生输出信号，并使用所述单电平信号补偿所述n个多电平信号之间的时序偏斜。n和m是自然数，其中，n>＝2并且m>＝3。
-
公开(公告)号：CN110545093B
公开(公告)日：2025-01-21
申请号：CN201910131817.5
申请日：2019-02-22
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了半导体装置以及半导体测试设备。所述半导体装置包括信号发生器以及解码和时序偏斜调整电路。所述信号发生器被配置为接收n个具有m个信号电平的多电平信号，并将所述n个多电平信号转换成n*(m‑1)个具有两个信号电平的单电平信号。所述解码和时序偏斜调整电路被配置为接收所述单电平信号，对所述单电平信号执行预定义操作以产生输出信号，并使用所述单电平信号补偿所述n个多电平信号之间的时序偏斜。n和m是自然数，其中，n>＝2并且m>＝3。
-
公开(公告)号：CN100480690C
公开(公告)日：2009-04-22
申请号：CN200410080449.X
申请日：2004-10-10
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G01N21/956 , G01N21/88 , G02F1/13
CPC classification number: G01N21/95 , G01N2021/9513 , G02F1/1309
Abstract: 一种可以正确检测显示面板自身的缺陷的检查显示面板的设备和方法。在该检查显示面板的方法中，在没有图形被应用于显示面板的状态下从显示面板拍摄第一图像。在图形被应用于显示面板的状态下光随后被辐照到显示面板，并且从显示面板拍摄第二图像。可以比较第一图像与第二图像，并且确定显示面板的缺陷是否存在。
-
公开(公告)号：CN1648645A
公开(公告)日：2005-08-03
申请号：CN200410080449.X
申请日：2004-10-10
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G01N21/956 , G01N21/88 , G02F1/13
CPC classification number: G01N21/95 , G01N2021/9513 , G02F1/1309
Abstract: 一种可以正确检测显示面板自身的缺陷的检查显示面板的设备和方法。在该检查显示面板的方法中，在没有图形被应用于显示面板的状态下从显示面板拍摄第一图像。在图形被应用于显示面板的状态下光随后被辐照到显示面板，并且从显示面板拍摄第二图像。可以比较第一图像与第二图像，并且确定显示面板的缺陷是否存在。
-
-
-
Search Results
4
records
(took 0.024 seconds)
