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公开(公告)号：CN108089840B
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN201710055989.X
申请日：2017-01-25
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F7/58
Abstract: 本发明提供了一种用于随机数产生器的随机性测试设备及方法。一种用于测试随机数产生器的设备包括相关性测试电路和随机性确定电路。相关性测试电路提取由随机数产生器产生的比特流中的均包括彼此隔开第一距离的两个比特的第一多个比特对，获得所述第一多个比特对的各自两个比特之间的差的第一总和，并获得第二多个比特对的各自两个比特之间的差的第二总和，所述第二多个比特对的每个比特对包括彼此隔开与第一距离不同的第二距离的两个比特。随机性确定电路基于第一总和和第二总和来确定比特流的随机性。
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公开(公告)号：CN118214543A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202311680976.3
申请日：2023-12-07
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了一种设备。该设备包括：多个物理上不可克隆的功能(PUF)单元，多个PUF单元中的每一个PUF单元包括至少一个逻辑门并且被配置为基于该至少一个逻辑门的至少一个阈值电平来生成输出信号；信号发生器，被配置为生成提供给多个PUF单元中的每一个PUF单元的输入信号；以及控制器，被配置为：在测试模式中，生成控制信号以控制信号发生器改变输入信号，以控制多个PUF单元根据输入信号输出多个输出信号，以及基于由至少一个弱PUF单元生成的输出信号是不稳定的输出信号，从多个PUF单元中识别该至少一个弱PUF单元。控制器还被配置为在正常模式中将多个PUF单元与信号发生器断开连接。
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公开(公告)号：CN116386708A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202211711373.0
申请日：2022-12-29
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供一种存储装置及其操作方法。所述存储装置包括：存储器装置，被配置为存储原始数据；以及控制器，被配置为控制存储器装置，控制器包括：第一纠错电路，被配置为纠正原始数据的错误；以及第二纠错电路，被配置为纠正原始数据的错误，第二纠错电路的可纠正错误位的最大数量大于第一纠错电路的可纠正错误位的最大数量；映射存储器，被配置为存储由第二纠错电路生成的奇偶校验位中的至少一些，并且存储存储原始数据的存储器装置的地址；以及控制块，被配置为控制第一纠错电路、第二纠错电路和映射存储器。
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公开(公告)号：CN108880818B
公开(公告)日：2021-08-24
申请号：CN201810175242.2
申请日：2018-03-02
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H04L9/32
Abstract: 本发明提供具有低误比特率的物理不可克隆功能电路、包括所述物理不可克隆功能电路的物理不可克隆功能系统以及具有物理不可克隆功能的集成电路。所述物理不可克隆功能电路包括：多个物理不可克隆功能单元，分别被配置成通过对电源电压进行分压来产生输出电压；参考电压产生器，被配置成通过对所述电源电压进行分压来产生第一参考电压；以及比较单元，被配置成将所述多个物理不可克隆功能单元的所述输出电压与所述第一参考电压依序进行比较，以输出所述多个物理不可克隆功能单元的数据值。
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公开(公告)号：CN113158200A
公开(公告)日：2021-07-23
申请号：CN202110034190.9
申请日：2021-01-12
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 本公开涉及使用挑战‑响应协议执行认证的集成电路和使用其的方法。所述集成电路包括内部挑战生成器、物理不可克隆功能(PUF)块和响应生成器。内部挑战生成器被配置为接收挑战，生成与挑战对应的多个内部挑战，并且使用筛选信息生成所述多个内部挑战之中的至少一个有效内部挑战。物理不可克隆功能(PUF)块被配置为生成分别根据所述多个有效内部挑战而改变的多个有效内部响应。响应生成器被配置为输出使用所述多个有效内部响应生成的响应。
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公开(公告)号：CN109428724A
公开(公告)日：2019-03-05
申请号：CN201810826612.4
申请日：2018-07-25
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H03K19/003 , G06F7/588 , H01L23/576 , H04L9/0866 , H04L9/0869 , H04L9/3278 , H04L9/0816
Abstract: 一种用于物理不可克隆功能的集成电路及具有物理不可克隆功能的集成电路，包括第一物理不可克隆功能单元、第二物理不可克隆功能单元及组合电路。第一物理不可克隆功能单元及第二物理不可克隆功能单元基于逻辑门的阈值电平来分别输出具有唯一电平的第一单元信号及第二单元信号。组合电路包括基于第一单元信号及第二单元信号来产生第一组合信号的第一级。第一物理不可克隆功能单元及第二物理不可克隆功能单元分别包括第一逻辑门及第二逻辑门，第一逻辑门及第二逻辑门分别输出第一单元信号及第二单元信号。组合电路包括接收第一单元信号及第二单元信号并输出第一组合信号的第三逻辑门。第三逻辑门具有与第一逻辑门及第二逻辑门中的每一者相同的结构。
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公开(公告)号：CN103368729A
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：CN201310104983.9
申请日：2013-03-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H04L9/22
CPC classification number: G06F7/582 , G06F7/766 , H04L9/0631 , H04L2209/08 , H04L2209/24
Abstract: 本发明公开了一种产生随机排列的方法及随机排列产生装置。通过以下步骤产生随机排列：将N个数的序列布置在矩阵中；对矩阵的行执行随机布置操作以产生中间矩阵；对中间矩阵的列执行随机布置操作以产生第二中间矩阵；以及将第二中间矩阵的N个数布置为所述N个数的重排序列。
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公开(公告)号：CN111198671A
公开(公告)日：2020-05-26
申请号：CN201910965515.8
申请日：2019-10-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F7/58
Abstract: 提供了一种随机数发生器。所述随机数发生器包括：第一环形振荡器，所述第一环形振荡器包括第一反相器链，所述第一反相器链包括串联连接的多个第一反相器，所述第一环形振荡器被配置为输出在所述多个第一反相器中的两个相邻的第一反相器之间的第一子节点处产生的第一随机信号；第二环形振荡器，所述第二环形振荡器包括第二反相器链，所述第二反相器链包括串联连接的多个第二反相器，所述第二环形振荡器被配置为输出在所述多个第二反相器中的两个相邻的第二反相器之间的第二子节点处产生的第二随机信号；以及信号处理电路，所述信号处理电路用于通过对所述第一随机信号和所述第二随机信号进行组合来产生随机数。
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公开(公告)号：CN109670346A
公开(公告)日：2019-04-23
申请号：CN201811184280.0
申请日：2018-10-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F21/73
Abstract: 本申请提供了一种半导体装置、半导体装置的安全密钥登记方法、以及一种电子系统。该半导体装置包括：物理防克隆功能单元阵列，其包括输出第一位的物理防克隆功能单元；非易失性存储器，其存储标志位、第一屏蔽位和第二屏蔽位，标志位指示第一位是否有效，通过根据第二位的奇偶性屏蔽第二位而产生第一屏蔽位，通过屏蔽第二位的辅助位而产生第二屏蔽位，第二位是第一位中的有效位；提取单元，其使用标志位来从第一位提取第二位；解屏蔽单元，其在接收到第二位时使用第一屏蔽位来解屏蔽第二位，从而提供第三位；位解码单元，其在接收到第三位时将第三位压缩为第四位；以及，块解码单元，其通过解码第四位和第二屏蔽位而产生安全密钥。
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