公开(公告)号：CN112447253A

公开(公告)日：2021-03-05

申请号：CN202010498614.2

申请日：2020-06-04

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 殷亨来 ,  金东 ,  朴仁勳

IPC: G11C29/42

Abstract: 提供了一种半导体存储器装置和控制半导体存储器装置的修复的方法。所述半导体存储器装置包括存储器单元阵列、纠错码(ECC)引擎、连接在存储器单元阵列与ECC引擎之间的输入/输出(I/O)门控电路、错误信息寄存器和控制逻辑电路。存储器单元阵列包括多个存储器单元行。控制逻辑电路基于命令和地址来控制ECC引擎、I/O门控电路和错误信息寄存器。I/O门控电路向ECC引擎提供通过对多个存储器单元行的刷新操作而从存储器单元阵列读取的码字。ECC引擎基于码字的奇偶校验位对码字的主数据执行ECC解码，并且响应于由于执行ECC解码而针对对应的地址检测到可纠正错误，向控制逻辑电路提供错误产生信号。

公开(公告)号：CN112540869A

公开(公告)日：2021-03-23

申请号：CN202010895577.9

申请日：2020-08-31

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 殷亨来 ,  金东 ,  朴仁勳

IPC: G06F11/10 ,  G11C29/42

Abstract: 提供了一种存储器控制器、存储装置和存储装置的操作方法。所述存储装置包括：非易失性存储器；易失性存储器；和存储器控制器，被配置为控制非易失性存储器和易失性存储器。存储器控制器被配置为：在所述存储装置的操作期间，响应于确定在非易失性存储器和易失性存储器中的至少一个存储器中已经发生渐进缺陷，而使得所述至少一个存储器被确定为缺陷存储器，基于执行存储器恢复固件对缺陷存储器执行修复操作。