公开(公告)号：CN110596567B

公开(公告)日：2024-07-09

申请号：CN201910352691.4

申请日：2019-04-29

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朱成晧 ,  金圭烈 ,  李在英 ,  曹昌铉

IPC: G01R31/28

Abstract: 公开了一种测试接口板、测试系统以及操作测试接口板的方法。测试接口板包括一个或多个中继电路和同步信号生成器。中继电路复制来自自动测试设备(ATE)的测试信号，通过相应的通道中的一个通道将复制的测试信号施加到多个被测试装置(DUT)中的每个DUT，并且响应复制的测试信号，向ATE提供从多个DUT中的每个DUT接收的多个测试结果信号。同步信号生成器从多个DUT中的每个DUT接收多个状态信号并将时序同步信号提供给ATE。所述多个状态信号中的每个状态信号指示多个DUT中的一个DUT中的测试操作的完成，测试操作与测试信号相关联，并且当所有的多个状态信号指示测试操作的完成时，同步信号生成器激活时序同步信号。

公开(公告)号：CN110596567A

公开(公告)日：2019-12-20

申请号：CN201910352691.4

申请日：2019-04-29

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朱成晧 ,  金圭烈 ,  李在英 ,  曹昌铉

IPC: G01R31/28

Abstract: 公开了一种测试接口板、测试系统以及操作测试接口板的方法。测试接口板包括一个或多个中继电路和同步信号生成器。中继电路复制来自自动测试设备(ATE)的测试信号，通过相应的通道中的一个通道将复制的测试信号施加到多个被测试装置(DUT)中的每个DUT，并且响应复制的测试信号，向ATE提供从多个DUT中的每个DUT接收的多个测试结果信号。同步信号生成器从多个DUT中的每个DUT接收多个状态信号并将时序同步信号提供给ATE。所述多个状态信号中的每个状态信号指示多个DUT中的一个DUT中的测试操作的完成，测试操作与测试信号相关联，并且当所有的多个状态信号指示测试操作的完成时，同步信号生成器激活时序同步信号。