Invention Publication
- Patent Title: 一种导电滑环性能测试方法及测试装置
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Application No.: CN202311734038.7Application Date: 2023-12-15
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Publication No.: CN117490725APublication Date: 2024-02-02
- Inventor: 周芳媛 , 周平璜 , 黄维 , 杨长保
- Applicant: 华中光电技术研究所(中国船舶集团有限公司第七一七研究所)
- Applicant Address: 湖北省武汉市洪山区雄楚大街981号
- Assignee: 华中光电技术研究所(中国船舶集团有限公司第七一七研究所)
- Current Assignee: 华中光电技术研究所(中国船舶集团有限公司第七一七研究所)
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市洪山区雄楚大街981号
- Agency: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司
- Agent 许美红; 黄帅
- Main IPC: G01C25/00
- IPC: G01C25/00 ; G01C21/02

Abstract:
本发明公开了一种导电滑环性能测试方法及测试装置,该方法包括:将导电滑环转子端引线两两短接,转子端两短接引线与其定子端对应的两引线构成一个回路;转动导电滑环一周,测试定子端对应的两引线之间的电阻值并获取其最大值和最小值,两者之差作为该回路的动态接触电阻变化值;设置不同的转数寿命区间,每个转数寿命区间检测一次动态接触电阻变化值;若多个回路的动态接触电阻变化值超过预设变化阈值累次达到预设次数,则当前导电滑环转动圈数即为该导电滑环的旋转寿命。本发明对导电滑环进行性能测试,掌握导电滑环的使用周期,为设备日常保养及巡检提供依据,对寿命件导电滑环进行临期预警,以便提前识别风险持续保证天文导航设备的导航精度。
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