Invention Publication
- Patent Title: 过驱动调试方法及调试系统
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Application No.: CN202311132450.1Application Date: 2023-09-04
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Publication No.: CN117198240APublication Date: 2023-12-08
- Inventor: 于学敏 , 杨惠 , 翟天辰 , 田志民 , 姬治华 , 高涵 , 陈池 , 潘梅卿 , 朱琳 , 柯岩 , 李保梁
- Applicant: 北京集创北方科技股份有限公司
- Applicant Address: 北京市大兴区北京经济技术开发区景园北街2号56幢
- Assignee: 北京集创北方科技股份有限公司
- Current Assignee: 北京集创北方科技股份有限公司
- Current Assignee Address: 北京市大兴区北京经济技术开发区景园北街2号56幢
- Agency: 北京成创同维知识产权代理有限公司
- Agent 蔡纯; 刘静
- Main IPC: G09G3/36
- IPC: G09G3/36 ; G02F1/1333 ; G09G3/00 ; G02F1/13

Abstract:
本发明公开了一种过驱动调试方法及调试系统。根据本发明实施例的过驱动调试方法包括获取第一测试灰阶值和第二测试灰阶值,其中,所述第一测试灰阶值小于所述第二测试灰阶值;根据所述第一测试灰阶值和所述第二测试灰阶值,分别确定从所述第一测试灰阶值转换至所述第二测试灰阶值对应的第一过驱动值和从所述第二测试灰阶值转换至所述第一测试灰阶值对应的第二过驱动值;以及根据所述第一过驱动值和所述第二过驱动值,建立过驱动查找表,所述过驱动查找表用于过驱动。根据本发明实施例的过驱动调试方法及调试系统,能够快速、高效地自动建立过驱动查找表。
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IPC分类: