本申请涉及一种无测试向量集成电路产品测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。从而在集成电路产品研制厂商不愿提供或者不能提供测试向量的情况下，实现对缺乏测试向量的测试项目的测试。