Invention Grant
- Patent Title: 转换延迟故障测试压缩环境下测试精简方法和装置
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Application No.: CN201910965117.6Application Date: 2019-10-11
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Publication No.: CN112649723BPublication Date: 2021-11-12
- Inventor: 向东
- Applicant: 清华大学
- Applicant Address: 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱
- Assignee: 清华大学
- Current Assignee: 清华大学
- Current Assignee Address: 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱
- Agency: 北京路浩知识产权代理有限公司
- Agent 王文思
- Main IPC: G01R31/317
- IPC: G01R31/317
Abstract:
本发明实施例提供一种转换延迟故障测试压缩环境下测试精简方法和装置。所述方法包括：根据故障表进行动态测试精简，生成第一测试集合；根据测试压缩结构将所述第一测试集合扩展为第二测试集合，根据所述第二测试集合进行静态测试精简，所述测试压缩结构包括软件定义线性反馈移位寄存器SLFSR和相移器。本发明实施例能够实现测试向量的高效率精简，有效地降低数字VLSI测试时间，提高测试效率。
Public/Granted literature
- CN112649723A 转换延迟故障测试压缩环境下测试精简方法和装置 Public/Granted day:2021-04-13
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