Invention Grant
- Patent Title: 三维存储器结构的制造方法
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Application No.: CN201811140658.7Application Date: 2018-09-28
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Publication No.: CN109390303BPublication Date: 2022-01-04
- Inventor: 胡斌 , 肖莉红
- Applicant: 长江存储科技有限责任公司
- Applicant Address: 湖北省武汉市洪山区东湖开发区关东科技工业园华光大道18号7018室
- Assignee: 长江存储科技有限责任公司
- Current Assignee: 长江存储科技有限责任公司
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市洪山区东湖开发区关东科技工业园华光大道18号7018室
- Agency: 北京成创同维知识产权代理有限公司
- Agent 蔡纯; 岳丹丹
- Main IPC: H01L23/48
- IPC: H01L23/48 ; H01L23/535 ; H01L27/115 ; H01L27/11578

Abstract:
公开了一种三维存储器结构的制造方法,包括:形成CMOS电路,CMOS电路包括第一硅衬底以及位于第一硅衬底上的第一绝缘层,第一绝缘层中具有多个第一外部焊盘;形成贯穿第一绝缘层和第一硅衬底的硅通孔,硅通孔的第二端在第一硅衬底的底部暴露;在第一绝缘层上形成第一布线层,硅通孔的第一端与第一布线层连接,以及经由第一布线层与第一外部焊盘电连接;形成存储单元阵列,存储单元阵列包括第二硅衬底以及位于第二硅衬底上的第二绝缘层,第二绝缘层中具有多个第二外部焊盘和多个第二布线层;以及将CMOS电路和存储单元阵列键合成三维存储器结构。本发明实施例可以减少布线密度。
Public/Granted literature
- CN109390303A 硅穿孔工艺及三维存储器结构的制造方法 Public/Granted day:2019-02-26
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IPC分类: