本发明涉及用于表征样本(S)的表征设备(50)，该设备包括：‑存储器(MEM)，其存储穿过半透明材料执行的所述样本的测量的光谱(As+p)和所述半透明材料的测量的光谱(Ap)；‑处理单元(PU)，其被配置为：*确定穿过所述半透明材料(As+p)的所述样本的所述测量的光谱(As+p)的光谱能量(Es+p)；*根据所述光谱能量(Es+p)来估计系数以及*根据穿过所述半透明材料的所述样本的所述测量的光谱(As+p)以及所述半透明材料的校正的光谱来确定所述样本的校正的光谱所述半透明材料的所述校正的光谱是根据所述半透明材料的所述测量的光谱(Ap)以及估计的系数来确定的。